1、介電常數(shù)的影響 低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測介質(zhì)，優(yōu)選導波雷達。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴重，物位波動和泡沫散射引起信號減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強的電磁波信號，并采用功能強的微處理器進行復雜的信號處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達物位計價格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問題。導波雷達和常規(guī)雷達一樣，采用傳輸時間來測量介質(zhì)物位，信號自烴類［介電常數(shù)2~3］液體表面或自水［介電常數(shù)80］面反射回傳的時間一樣的，不同的只是信號幅度［強度］的差別。普通雷達須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導波雷達僅需測量電磁波的傳輸時間即可，無需信號的處理和辨別。

2、固體物料測量 對于粉狀物料，可以選擇纜式導波雷達。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒有影響。對于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達物位計。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因為微波的頻率越高，微波的波長越短，保證發(fā)射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面反射回雷達探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。

3、液體、物位的測量 對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應優(yōu)選導波雷達。因為導波管對液面有整型作用，且導波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導波管方式測量，因為粘附和結晶會堵死導波管。從而形成虛假物位?？梢赃x擇導波桿方式來測量。當介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；但橋接性涂污的形成卻能導致明顯的測量誤差，當塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結于波導體上或橋接于兩個波導體之間時，就會在該點測得虛假物位。

4、雷達物位計的基本設定

（1） 根據(jù)物位計測量儲罐的形狀，設定儲罐特性。

（2） 根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設定介電常數(shù)。

（3） 在過程條件一項選擇所測介質(zhì)的過程變化情況，如果是桿式的雷達物位計，還應該設定探頭底部的接觸情況。

（4） 接下來按照工藝要求設定物位計的空標和滿標值，如果是導波管的還應該設定導波管的直徑。

（5） 根據(jù)設定的空標值做全程抑制。
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