簡(jiǎn)單晶振測(cè)試儀電路圖

本文介紹一款簡(jiǎn)單晶振測(cè)試儀電路，原理電路如附圖所示。圖中，V1及其外圍元件（包括被測(cè)晶振）共同組成一個(gè)電容三點(diǎn)式振蕩器。當(dāng)探頭X1、X2兩端接入被測(cè)晶振時(shí)，電路振蕩。振蕩信號(hào)經(jīng)V2射極跟隨級(jí)放大后輸出，經(jīng)C4耦合、D1、D2倍壓整流后為V3提供偏置電流，V3導(dǎo)通，LED發(fā)光。若晶振不良或斷路，電路則不能起振，因而LED不發(fā)光。

該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，所用元件極為普遍，而且只要元件質(zhì)量良好，裝配無(wú)誤，不需調(diào)試即可一次成功。探頭可利用兩個(gè)插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測(cè)試棒，但引線不宜過(guò)長(zhǎng)。該測(cè)試議可測(cè)試頻率為450KHz～49MHz的各種晶振，工作電源推薦采用6V疊層電池。

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