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GaN前世今生詳解

中科院半導體所 ? 來源:與非網(wǎng) ? 作者:與非網(wǎng) ? 2020-10-10 09:54 ? 次閱讀

來源|與非網(wǎng)(ee-focus)

GaN 為何這么火?

如果再有人這么問你

最簡單的回答即是:

因為我們離不開電源

并且不斷追求更好的電源系統(tǒng)

當我們談GaN時你在想什么?

GaN前世今生詳解,請查看以下內(nèi)容

今天,基于 GaN 器件的快充已在消費電子市場站穩(wěn)腳跟。

現(xiàn)在,我們把時間撥回到 1928 年。一天,Jonason 等人合成了一種Ⅲ-Ⅴ族化合物半導體材料,也就是 GaN。恐怕當時他們怎么也想不到,在經(jīng)歷了將近一個世紀不溫不火的狀態(tài)后,今天,GaN 這種新型的半導體材料徹底引爆了全球功率器件的革新。

在消費電子市場的成功說明了目前整個 GaN 行業(yè)的制造工藝和相關(guān)器件的性能得到了充分的驗證。在全球進軍工業(yè) 4.0、中國新基建開啟征程的時刻,5G、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、新能源車及充電樁、光伏電網(wǎng)及特高壓人工智能云計算大數(shù)據(jù)中心等,每年要消耗的能源無疑是一個天文數(shù)字,市場急需更高效和更高密度的電源系統(tǒng)。因此,GaN 從幕后站到了前臺,如果說消費電子市場的成功只是小試牛刀,那么工業(yè) 4.0,中國新基建將會是 GaN 的封神之路。

GaN 為何這么火?究其原因還是在于功率密度的提升,在更小的空間內(nèi)實現(xiàn)更大的功率,從而以更低的系統(tǒng)成本增強系統(tǒng)功能。提升功率密度的四個重要方面包括:降低損耗、最優(yōu)拓撲和控制選擇、通過機電元件集成來減小系統(tǒng)體積以及有效的散熱。

所以本文主要針對這些方面,從 GaN 材料的優(yōu)勢、電源拓撲、功能集成、可靠性以及產(chǎn)品匹配與應(yīng)用方面加以分析,告訴你 GaN 器件是如何在電源系統(tǒng)中掀翻傳統(tǒng) Si 器件的?

材料的優(yōu)勢

相對于 Si MOSFETIGBT 器件,GaN 器件提供了實質(zhì)性的改進,包括快速開關(guān)時間、低導通電阻、較低的門極電容(例如,GaN 的單位門極電荷小于 1nC-Ω,而 Si 的單位門極電荷為 4nC-Ω),這些特性可以實現(xiàn)更快的導通和關(guān)斷,同時減少柵極驅(qū)動損耗。

GaN 還提供了較低的單位輸出電容(典型的 GaN 器件的單位輸出電荷為 5nC-Ω,而傳統(tǒng)的 Si 器件為 25nC-Ω),這使設(shè)計人員能夠在不增加開關(guān)損耗的同時實現(xiàn)較高的開關(guān)頻率,更高的開關(guān)頻率意味著設(shè)計人員能夠縮小電源系統(tǒng)中磁性元件的尺寸、重量和數(shù)量。

此外,更低的損耗等同于更高效的電源分布,這減少了發(fā)熱并精簡了電源的冷卻方案。

電源拓撲

從 GaN 器件的特性和優(yōu)勢來說,最適合的應(yīng)用大多是開關(guān)電源。而在設(shè)計開關(guān)模式電源時,主要考慮品質(zhì)因素(FOM)包括成本、尺寸以及效率。但是這三者相互關(guān)聯(lián)又相互掣肘,例如,增加開關(guān)頻率可減小磁性元件的尺寸和成本,但會增加磁性元件的損耗和功率器件中的開關(guān)損耗。如何才能實現(xiàn)緊湊且高效的電源拓撲?下面以一個基于 GaN 器件的 1kW AC/DC 電源方案為例進一步說明。

AC/DC 電源的目標是要把 AC 線路電源轉(zhuǎn)化為較低電壓,為手機或個人計算機等低壓電氣設(shè)備供電或充電,而這通常通過幾個功率級實現(xiàn)。第一級是典型電源,包括供電 AC 線路電源,它通過功率因數(shù)校正(PFC)級產(chǎn)生高壓 DC 母線;在第二級,該電壓經(jīng)由 DC/DC 轉(zhuǎn)換器被轉(zhuǎn)換為低壓(一般是 48 V 或 12 V)。這兩級被稱為交直流轉(zhuǎn)換級。它們一般被部署在一起并提供保護設(shè)備和人員的隔離措施。第二級轉(zhuǎn)換器輸出的 12 V 或 48 V 電壓,被分配給位于不同負載點(POL)的最終使用電路,例如設(shè)備柜內(nèi)的不同電路板;第三級轉(zhuǎn)換器存在一或多個直流轉(zhuǎn)換器,可產(chǎn)生電子元件所需的低壓。

那 GaN 是如何改進了 PFC 級、高壓 DC/DC 轉(zhuǎn)換器和 POL 級的功率密度?

PFC 級使用高效率圖騰柱拓撲,GaN 的反向恢復(fù)損耗為零,因此非常適合圖騰柱 PFC 拓撲。與傳統(tǒng)的雙升壓技術(shù)相比,圖騰柱將功率器件和電感器的數(shù)量減少了 40%,從而實現(xiàn)獨一無二的高功率密度、高效率和低功耗組合,而類似的基于 Si 的設(shè)計卻無法做到這一點。與使用 Si 的傳統(tǒng)二極管橋式升壓 PFC 相比,使用 GaN 的 PFC 級的效率超過 99%,功耗降低 10W 以上。

高壓 DC/DC 級采用了高效的 LLC 諧振轉(zhuǎn)換器。雖然在 LLC 轉(zhuǎn)換器中使用 Si 是很普遍的,但是 GaN 的優(yōu)點在于把功率密度提高了 50%,將開關(guān)頻率提升了一個數(shù)量級。基于 GaN 的 1-MHz LLC 所要求的變壓器尺寸比基于 Si 的 100-kHz LLC 的變壓器要小六分之一。

POL 級利用 GaN 的低功率損耗,可直接實現(xiàn)高效的 48 V 到 1 V 硬開關(guān)轉(zhuǎn)換器。大多數(shù) Si 解決方案需要額外的第四級將 48 V 轉(zhuǎn)換為 12 V,但 GaN 可實現(xiàn)真正的單級轉(zhuǎn)換,直接轉(zhuǎn)換為 1 V。通過這種方式,基于 GaN 的設(shè)計可將元件數(shù)量減少一半,并將功率密度提高三倍。雖然本示例我們?nèi)匀皇褂没?GaN 的 PFC、DC/DC 和 POL 電路,但是它們的實施或使用的電源拓撲還是不同的,經(jīng)過優(yōu)化后的電源拓撲可更大程度發(fā)揮 GaN 的性能。

功能集成

同樣是 GaN 器件,也會有設(shè)計難易之分,方案優(yōu)劣之別。先來看兩張圖。一張是分立式 GaN 器件及其驅(qū)動電路,一張是集成了直接驅(qū)動的 GaN 電路。

分立式 GaN 器件及其驅(qū)動電路

直接驅(qū)動 GaN 器件電路

表面即可得出的結(jié)論:直接驅(qū)動 GaN 器件可以減少 PCB 設(shè)計尺寸,減少外圍電路元器件,降低設(shè)計難度。

那如何理解直接驅(qū)動 GaN 器件?

簡而言之,就是將驅(qū)動與 GaN 器件集成到一個封裝中,這樣可以最大程度降低寄生電感、降低開關(guān)損耗并優(yōu)化驅(qū)動控制。

那更深層的意義?

同樣,以兩個典型的基于 GaN 器件的電路對比:共源共柵驅(qū)動 VS. 直接驅(qū)動的電路配置。

通過兩者電路的對比分析,我們可以得出使用直接驅(qū)動 GaN 器件電路配置的優(yōu)勢:

更低的 Coss,從而降低損耗,在更高開關(guān)頻率下優(yōu)勢越明顯;

沒有反向恢復(fù) Qrr 的損耗;

硬開關(guān)應(yīng)用中的開關(guān)損耗更低;

可通過設(shè)置 GaN 的充電電流來控制開關(guān)速率;

更靈活的電路設(shè)計,在柵極環(huán)路中增加阻抗抑制寄生諧振,減少電源環(huán)路中的振蕩,從而降低了 GaN 器件上的電壓應(yīng)力,并減少了硬開關(guān)期間的電磁干擾(EMI)問題。

不僅如此,直接驅(qū)動 GaN 電路在高頻振蕩的表現(xiàn)上也比共源共柵驅(qū)動好,下面的仿真波形是以功率器件的 Coss 和環(huán)路寄生電感為模型,對比了降壓轉(zhuǎn)換器中開關(guān)節(jié)點振蕩的差異。

硬開關(guān)操作導致過多高頻振蕩

直接驅(qū)動配置具有受控的導通,且過沖很少。而共源共柵驅(qū)動由于較高的初始 Coss、Qrr 和較低的柵極環(huán)路阻抗而具有較大的振蕩和硬開關(guān)損耗。

集成那么多功能?該如何控制封裝的尺寸?在小尺寸的同時又如何保證優(yōu)異的散熱?這似乎是一個矛盾因果關(guān)系。

可靠性

眾所周知,為開關(guān)電源設(shè)備提供保護電路非常重要,以防止由于直通、PWM 信號丟失、短路或其它事件而導致的系統(tǒng)級故障。因為 GaN 是一種高速器件,所以一般情況下需要在外部設(shè)計高速的檢測和保護電路。集成保護單元的 GaN 器件在這里就能提供無縫的操作和強大的保護,比如,TI 的 LMG3410 系列 GaN 產(chǎn)品,保護響應(yīng)時間不到 100ns,重點是它不需要外部組件,在提高可靠性的同時大大降低設(shè)計難度。

集成保護單元的 GaN 器件硬件系統(tǒng)框圖

產(chǎn)品匹配與應(yīng)用

從 GaN 相比傳統(tǒng) Si 的優(yōu)勢,又到直接驅(qū)動 GaN 電路相比分立式 GaN 電路的優(yōu)勢,無不反應(yīng)半導體界的一個普遍定律,越集成越強大。既然直接驅(qū)動 GaN 有這么強勢的優(yōu)勢?那是否有相關(guān)的產(chǎn)品上市了呢?

其實細心的讀者應(yīng)該已經(jīng)發(fā)現(xiàn),在上文中筆者已經(jīng)透露出了一些直接驅(qū)動 GaN 器件的信息,也就是 TI 最新推出的 LMG3410 系列產(chǎn)品。

TI LMG3410 系列 GaN 器件集成驅(qū)動器可實現(xiàn)> 100 V / ns 的開關(guān)速度,與分立的 GaN FET 相比,損耗降了一半。結(jié)合 TI 的低電感封裝,可以在每種電源應(yīng)用中提供干凈的開關(guān)技術(shù)和更小的振蕩。其它功能包括可調(diào)節(jié)的 EMI 控制驅(qū)動強度,強大的過流保護和過熱保護功能,可優(yōu)化 BOM 成本、PCB 尺寸和面積。

除了驅(qū)動和保護單元的集成,LMG3410 系列 GaN 器件的可靠性也得到充分得驗證,具有超過 3,000 萬小時的器件可靠性測試,10 年內(nèi) FIT 率低于 1。除了固有的可靠性測試外,TI 同樣在實際應(yīng)用中對 GaN 進行了最苛刻的硬開關(guān)應(yīng)力測試,并可靠地轉(zhuǎn)換了超過 3 GWHrs 的能量。

另一方面,LMG3410 系列 GaN 器件利用了 TI 現(xiàn)有的工藝技術(shù),提供了一些固有的供應(yīng)鏈并降低了成本。與在 SiC 或藍寶石等非 Si 襯底上構(gòu)建的其它技術(shù)不同,TI 的 GaN-on-silicon 工藝利用 TI 100%內(nèi)部設(shè)備進行制造,組裝和測試,從而利用內(nèi)部資源持續(xù)改善產(chǎn)品質(zhì)量。

除了 LMG3410 系列 GaN 器件本身的優(yōu)異性,更重要的是 TI 實行“授人以魚不如授人以漁”的方針,提供了全面的 GaN 器件解決方案,并且不斷在更新&開發(fā)新應(yīng)用領(lǐng)域方案,所以你拿到的不僅僅是一個器件,更是一站式的全套服務(wù)。

寫在最后

GaN 的應(yīng)用可以說是無處不在,文中提到的 AC/DC 電源只不過是 GaN 器件應(yīng)用的冰山一角,我們可以在想得到的任何需要提升效率和功率密度的場景下使用 GaN 解決方案。比如在電機控制領(lǐng)域,GaN 可以提高 PWM 頻率并降低開關(guān)損耗,這有助于驅(qū)動極低電感的永久磁性和無刷直流電機,這些特性還使轉(zhuǎn)矩波動更小化,從而在伺服驅(qū)動器和步進器中實現(xiàn)精確定位,支持高速電機在無人機等應(yīng)用中實現(xiàn)高電壓;在 LiDAR 應(yīng)用中,GaN 的低輸入和高電容特性,使 LiDAR 以更短脈沖實現(xiàn)了更高的峰值輸出光功率,這在提高成像分辨率的同時保護了眼睛的安全;在高保真音響應(yīng)用中,GaN 能在高壓擺率下高效開關(guān),并且開關(guān)行為可預(yù)測性較高,極大減少了諧波失真,實現(xiàn)了更理想的音響性能,將噪音限制在更高的不可聽的頻帶內(nèi)。

以上案例無一不在說明 GaN 正在改變行業(yè),從電路的本質(zhì)來說,要使用 GaN 技術(shù)不是簡單的加減法,不是換個器件而已,但是,在選擇方案時如果選擇像 LMG3410 這種提供現(xiàn)成 GaN 全套解決方案的,那使用 GaN 就如同換顆已經(jīng)驗證過的代替料那么簡單。現(xiàn)在,無需質(zhì)疑 GaN 的種種優(yōu)勢,它正在向更多的電源應(yīng)用領(lǐng)域滲透,而工業(yè) 4.0 和新基建將會成為 GaN 的封神之路。

原文標題:GaN如何“風馳”快充市場?

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責任編輯:haq

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    FPGA中競爭與冒險的前世今生

    競爭冒險:在組合電路中,當邏輯門有兩個互補輸入信號同時向相反狀態(tài)變化時,輸出端可能產(chǎn)生過渡干擾脈沖的現(xiàn)象,稱為競爭冒險。那么 FPGA 產(chǎn)生競爭冒險的原因是什么呢? 信號在 FPGA 器件內(nèi)部通過連線和邏輯單元時,都有一定的延時。 延時的大小與連線的長短和邏輯單元的數(shù)目有關(guān) 同時還受器件的制造工藝、工作電壓、溫度等條件的影響 信號的高低電平轉(zhuǎn)換也需要一定的過渡時間 。由于以上存在的因素,多路信號的電平值發(fā)生變化時,在信號變化的瞬間,組合邏輯的輸出有先后順序,并不是同時變化往往會出現(xiàn)一些不正確的尖峰信號,這些尖峰信號稱為毛刺 。如果一個組合邏輯電路中有毛刺出現(xiàn),就說明該電路存在冒險 。與分立元件不同,由于 PLD 內(nèi)部不存在寄生電容電感,這些毛刺將被完整的保留并向下一級傳遞,因此毛刺現(xiàn)象在 PLD 、 FPGA 設(shè)計中尤為突出 。 毛刺的累加 將會影響整個設(shè)計的可靠性和精確性 。因此判斷邏輯電路中是否存在冒險以及如何避免冒險是 FPGA 設(shè)計人員必須要考慮的問題。 接下來我們就要考慮如何消除冒險 ,消除冒險的方式有一下幾種: 1、利用冗余項消除毛刺 函數(shù)式和真值表所描述的是靜態(tài)邏輯,而競爭則是從一種 穩(wěn)態(tài)到另一種穩(wěn)態(tài)的過程。因此競爭是動態(tài)過程,它發(fā)生在輸入變量變化時。此時,修改卡諾圖,增加多余項,在卡諾圖的兩圓相切處增加一個圓,可以消除邏輯冒險。但該法對于計數(shù)器型產(chǎn)生的毛刺是無法消除的。 2、采用格雷碼 我們可以通過改變設(shè)計,破壞毛刺產(chǎn)生的條件,來減少毛刺的發(fā)生。例如,在數(shù)字電路設(shè)計中,常常采用格雷碼計數(shù)器取代普通的二進制計數(shù)器,這是因為格雷碼計數(shù)器的輸出每次只有一位跳變 消除了競爭冒險的發(fā)生條件,避免了毛刺的產(chǎn)生。 3、采樣法 由于冒險出現(xiàn)在變量發(fā)生變化的時刻,如果待信號穩(wěn)定之后加入取樣脈沖,那么就只有在取樣脈沖作用期間輸出的信號才能有效。這樣可以避免產(chǎn)生的毛刺影響輸出波形。 一般說來,冒險出現(xiàn)在信號發(fā)生電平轉(zhuǎn)換的時刻,也就是說在輸出信號的建立時間內(nèi)會發(fā)生冒險,而在輸出信號 的保持時間內(nèi)是不會有毛刺信號出現(xiàn)的。如果在輸出信號的保持時間內(nèi)對其進行采樣,就可以消除毛刺信號的影響。 4、吸收法 增加輸出濾波,在輸出端接上小電容C可以濾除毛刺 。但輸出波形的前后沿將變壞,在對波形要求較嚴格時,應(yīng)再加整形電路,該方法不宜在中間級使用。 5、延遲辦法 因為毛刺最終是由于延遲造成的,所以可以找出產(chǎn)生延遲的支路。對于相對延遲小的支路,加上毛刺寬度 的延遲可以消除毛刺。 還可以用高頻時鐘來驅(qū)動一移位寄存器,待延時信號作數(shù)據(jù)輸入,按所需延時正確設(shè)置移位寄存器的級數(shù) ,移位寄存器的輸出即為延時后的信號。 當然最好的就是,在設(shè)計之初,就對競爭冒險進行規(guī)避,具體規(guī)避方法有: 1、在設(shè)計中每一個模塊中只用一個時鐘,避免使用多時鐘設(shè)計,同時避免使用主時鐘分頻后的二次時鐘作為時序器件的時鐘輸入, 因為時鐘偏斜會比較大 。 2、設(shè)計譯碼邏輯電路時必須十分小心,因為譯碼器和比較器本身會產(chǎn)生尖峰,容易產(chǎn)生毛刺,把譯碼器或比較器的輸出直接連到時鐘輸入端或異步清除端,會造成嚴重的后果。 3、在設(shè)計中 應(yīng)該盡量避免隱含 RS 觸發(fā)器的出現(xiàn)。一般要控制輸出被直接反饋到輸入端,采用反饋環(huán)路會出現(xiàn)隱含 RS 觸發(fā)器,其對輸入尖峰和假信號很敏感,輸入端有任何變化都有可能使輸出值立刻改變,此時易造成毛刺的產(chǎn)生,導致時序的嚴重混亂。 4、在設(shè)計電路時 要用寄存器和觸發(fā)器設(shè)計電路,盡量不要用鎖存器,因它對輸入信號的毛刺太敏感。如果堅持用鎖存器設(shè)計必須保證輸入信號絕對沒有毛刺,且滿足保持時間。 5、在設(shè)計中充分利用資源 ,因為 大部分 FPGA 器件都為時鐘、復(fù)位、預(yù)置等信號提供特殊的全局布線資源,要充分利用這些資源。 6、在設(shè)計中 不論是控制信號還是地址總線信號、數(shù)據(jù)總線信號,都要采用另外的寄存器,以使內(nèi)部歪斜的數(shù)據(jù)變成同步數(shù)據(jù)。 7、在設(shè)計中 應(yīng)該盡 量避免使用延遲線,因它對工藝過程的變化極為敏感,會大大降低電路的穩(wěn)定性和可靠性,并將為測試帶來麻煩。 8、在設(shè)計中 對所有模塊的輸入時鐘、輸入信號、輸出信號都用D觸發(fā)器或寄存器進行同步處理,即輸出信號直接來自觸發(fā)器或寄存器的輸出端。這樣可以消除尖峰和毛刺信號。
    發(fā)表于 02-21 16:26
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