引言

大氣氣溶膠是指懸浮在大氣中的微小顆粒物構(gòu)成的多分散體，其尺度范圍約在0．001～10μm之間。大氣氣溶膠對全球氣候有重要的影響：它通過對太陽輻射和紅外輻射的吸收和散射，造成地一氣系統(tǒng)輻射收支的改變，而通過改變云的微物理特性，影響全球的地表平均溫度，并以吸收和散射方式與輻射發(fā)生作用，直接干擾了光學(xué)遙感器接收的信號。因此，精確測量分析氣溶膠的光學(xué)厚度，對于了解氣候變化。去除遙感數(shù)據(jù)中大氣影響，提高遙感定量應(yīng)用水平都具有重要意義。者利用地物光譜儀對太陽輻射進(jìn)行測量，并反演出不同波段的氣溶膠光學(xué)厚度。研究結(jié)果表明，通過測量太陽直射光輻射和天空光漫輻射進(jìn)行大氣氣溶膠光學(xué)厚度的反演是有效和可靠的。

理論與方法

大氣光學(xué)厚度是與波長有關(guān)的量，其與太陽直射光譜輻照度的關(guān)系為：

其中：E0λ是在日地平均距離上大氣外界的太陽光譜輻照度，B為到達(dá)地面的太陽直射光譜輻照度，m為大氣質(zhì)量數(shù)，b為大氣總光學(xué)厚度。c為測量時(shí)刻的日地距離，可由下式計(jì)算：

式中J為一年中第幾天的數(shù)值。對方程(1)兩端取對數(shù)得：

由于地物光譜儀測得的是水平參考板在垂直方向的反射，即太陽直射輻射在豎直方向的分量

θ為太陽直射光線與水平參考板法線的夾角，則方程(1)可寫為

相應(yīng)的方程(3)可寫為：

由(5)式可以看出只要測得兩個(gè)不同時(shí)刻的太陽直射輻射即可得到大氣總光學(xué)厚度。但實(shí)際測量一般要求結(jié)果表示的是一個(gè)過程，即要避免大氣瞬間變化的影響，特別是肉眼觀察不到的高云變化。對遙感應(yīng)用來說。觀測至少是從大氣質(zhì)量6開始到觀測地區(qū)所能達(dá)到的最小值附近，或反之。

地面觀測實(shí)驗(yàn)

測量要求在大氣比較穩(wěn)定的時(shí)段內(nèi)，每個(gè)測量過程分為兩部分，包括用擋板擋掉太陽直射輻照的漫射輻照度和在無遮擋的情況下的總輻照度，后者與前者之差即太陽直射光譜輻照度。

圖1實(shí)驗(yàn)觀測示意圖

先將儀器按圖1左圖架好，將參考板平放在地面上，探頭固定在三角架上，調(diào)整探頭方向使其垂直于參考板所在平面，自然光照射時(shí)測量一次太陽總輻照度，記為E；然后迅速用擋板遮住太陽直射光使陰影蓋過參考板(圖1右)，再測一次太陽漫射輻照度，記為Es；兩者之差E—Es；即太陽直射光譜輻照度。

測量過程中應(yīng)注意：

保持探頭不動(dòng)，以防改變光線進(jìn)入探頭的入射角；

每次測量記錄三條光譜曲線(每隔0．1秒采集一條曲線)，計(jì)算時(shí)取三條曲線的平均值，以避免偶然誤差對結(jié)果的影響；

測量人員應(yīng)著深色衣服，并盡可能遠(yuǎn)離參考板；

測量地點(diǎn)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離高層建筑物的空曠地。

將測量數(shù)據(jù)按式(5)進(jìn)行Langley—Plot擬合，從而獲得了大氣總光學(xué)厚度，圖2是440 nm處的Langley—Plot擬合曲線，其擬合偏差為0．005 6，直線斜率的絕對值0．5501即440 nm處大氣總光學(xué)厚度。表2是大氣總光學(xué)厚度及其擬合偏差。擬合偏差為殘差平方與總離差平方和的比值，可用下式計(jì)算：

圖2 440m出Langley-Plot擬合曲線

式中：ERR為擬合偏差；y為實(shí)際觀測值

結(jié)果驗(yàn)證

利用6S(Second sjmulation of the Satellite Signal in theSolar Spectrum)輻射傳輸模型對當(dāng)天的大氣進(jìn)行模擬，以對本實(shí)驗(yàn)方法的可行性進(jìn)行驗(yàn)證。6s是由Tanre等人在假設(shè)均一地表的前提下，描述了非朗伯反射地表情況下的大氣影響理論，合理地處理了大氣散射、大氣吸收等過程，具有廣泛的應(yīng)用。6s模型提供了七種大氣模式和三種用戶自定義大氣模式，考慮到觀測點(diǎn)的地理位置(南京)與觀測時(shí)間(4月9日)，選擇中緯度夏季大氣模式。6s還提供了八種氣溶膠模式和四種用戶自定義氣溶膠模式，選擇大陸型氣溶膠模式，最后得到各個(gè)波段的氣溶膠光學(xué)厚度，并與由實(shí)測得到的結(jié)果進(jìn)行比較．見表3。從表3可以看出由ASD FieldSpec—FR實(shí)測值反演得到的值與6S模擬值之間的最高偏差為6％。

圖3 氣溶膠光學(xué)厚度與波長關(guān)系曲線

表3 利用光譜儀測算氣溶膠光學(xué)厚度與6S模擬氣溶膠光學(xué)厚度比較

結(jié)論

通過實(shí)驗(yàn)研究與討論。利用地物波譜儀進(jìn)行氣溶膠散射光學(xué)厚度的反演是切實(shí)可行的，可用于大氣校正中氣溶膠散射光學(xué)厚度的同步測量，但實(shí)驗(yàn)需要嚴(yán)格控制，以減少背景目標(biāo)及參考板的非朗伯特性等因素對探測信號的不利影響。

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審核編輯黃宇