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在DDR存儲(chǔ)器終端電壓電源中增加電壓下降可降低輸出電容

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者:ADI ? 2023-03-10 10:18 ? 次閱讀

用于產(chǎn)生 DDR 存儲(chǔ)器終止電壓的電源,即使在極端負(fù)載瞬變期間,從最大額定灌電流到最大額定拉電流,也只能承受 40mV 的變化。通常使用昂貴的大型電容器來確保不超過容差帶。但是,通過增加DDR存儲(chǔ)器終端電壓的下降,電源輸出電容可以大大降低。本應(yīng)用筆記說明了使用MAX1917的技術(shù)。

DDR 內(nèi)存的終止電壓電源需要跟蹤 DDR 內(nèi)存電源電壓 VDDQ,并且需要源出和吸收負(fù)載電流。在極端負(fù)載瞬變期間,從最大額定灌電流到最大額定拉電流,其最大電壓偏差不應(yīng)超過40mV。

MAX1917采用快速PWM控制架構(gòu),在一個(gè)開關(guān)周期內(nèi)響應(yīng)階躍負(fù)載變化,從而減少對(duì)輸出電容的要求。通過在設(shè)計(jì)中增加有意的電壓下降,可以進(jìn)一步降低輸出電容,而不會(huì)損失瞬態(tài)性能。

例如,在 1.25V/7A 終端 VTT 電源中,輸出電容的選擇應(yīng)使 ESR 小于:

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輸出端的 560 個(gè) 4μF/270V OSCAN 電容器、2 個(gè) 5μF/150.4V SPCAP 或 270 個(gè) 2μF/2V POSCAP 可滿足此 ESR 要求。出于空間考慮,選擇了5個(gè)35μF/7V SPCAP,總ESR為7.7mΩ。這在 -1A 至 <>A 至 -<>A 的階躍負(fù)載變化期間產(chǎn)生 <>mV 的最大電壓偏差,不包括輸出紋波電壓。圖 <> 顯示了 VTT 終端電壓電源的原理圖。

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圖1.1.25V/7A VTT 電源原理圖

圖2顯示了階躍負(fù)載瞬變期間VTT和輸出電流的波形。從該圖中可以明顯看出,最大電壓偏差小于40mV。從圖2中還可以清楚地看出,峰值電壓過沖或下沖在負(fù)載瞬態(tài)結(jié)束后立即結(jié)束,表明環(huán)路響應(yīng)非常快。

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圖2.階躍負(fù)載瞬變期間的VTT和負(fù)載電流波形。

當(dāng)使用下垂方法時(shí),所需的ESR可以加倍,即先前計(jì)算的5mΩ。最大抗下垂電阻由下式給出

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其中 V負(fù)荷是負(fù)載調(diào)整率,約為1mV/A,包括走線電阻,V。脈動(dòng)是輸出紋波電壓。考慮到一定的設(shè)計(jì)裕量,選擇2mΩ電阻R3,如圖3所示。此外,使用四個(gè)SPCAP而不是三個(gè)設(shè)計(jì)裕量,但與圖2相比,需要的電容減少了1個(gè)。圖4顯示了相同負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)下的VTT電壓和負(fù)載電流波形。最大電壓偏差完全在80mV電壓范圍內(nèi)。總之,增加輸出壓降會(huì)進(jìn)一步降低所需的輸出電容,從而降低系統(tǒng)總成本。

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圖3.帶輸出下垂的VTT電源原理圖。

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圖4.負(fù)載瞬態(tài)期間的VTT和負(fù)載電流波形,輸出下降。

審核編輯:郭婷

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