昊衡科技OLI用于光器件微裂紋檢測
OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測技術(shù)，利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。
圖1.OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀
本次測試使用了探測深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測儀。圖2為待光測器件，該器件為MPO接頭，器件內(nèi)部有微裂紋如圖3所示，漏光位置為裂紋點。
圖2.待測光器件
圖3.光器件內(nèi)部裂紋
圖4.OLI測試結(jié)果
將該器件接入OLI光纖微裂紋檢測儀進行測試，測試結(jié)果如圖4所示。本次測試檢測出光器件MPO端面對接處的反射、光器件內(nèi)部微裂紋和其余光鏈路。OLl光纖微裂紋檢測儀的高精度探測能力，可以實現(xiàn)對于微小裂紋的高精度檢測和定位，為光學(xué)器件的生產(chǎn)和檢測提供了有效保障。
審核編輯：湯梓紅
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