DASP (Defect and Dopant ab-initio Simulation Package)是一款半導(dǎo)體缺陷和雜質(zhì)性質(zhì)的第一性原理計(jì)算模擬軟件包,該軟件包能針對(duì)輸入的半導(dǎo)體晶體結(jié)構(gòu),基于材料基因組數(shù)據(jù)庫(kù)和第一性原理軟件包,自動(dòng)計(jì)算并輸出半導(dǎo)體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,缺陷和雜質(zhì)形成能及離化能級(jí),半導(dǎo)體樣品中缺陷、雜質(zhì)和載流子濃度及費(fèi)米能級(jí),關(guān)鍵缺陷和雜質(zhì)誘導(dǎo)的光致發(fā)光譜、載流子輻射和非輻射俘獲截面及少子壽命。
針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、缺陷的光致發(fā)光譜、缺陷對(duì)載流子的俘獲截面、輻射和非輻射復(fù)合速率等。
本期將給大家介紹DASP GaN中 (C_N) 缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算 5.6 的內(nèi)容。
以下內(nèi)容來(lái)自CDC模塊的程序日志5cdc.out:
對(duì)于非輻射俘獲系數(shù)的計(jì)算,我們也可以采用二階樣條曲線插值的勢(shì)能面擬合方法(quadratic-spline),修改dasp.in文件如下:
同樣使用命令dasp5執(zhí)行CDC模塊。等待期間無(wú)需額外操作。
CDC模塊會(huì)分析HSE泛函優(yōu)化的初態(tài)和末態(tài)兩個(gè)結(jié)構(gòu)在廣義坐標(biāo)下的差異(ΔQ),并沿著該方向線性地在更大的范圍內(nèi)產(chǎn)生一系列結(jié)構(gòu)。
完成所有靜態(tài)計(jì)算后,CDC模塊可以根據(jù)產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)及對(duì)應(yīng)的缺陷形成能大小得到初態(tài)與末態(tài)下的有效聲子能量、聲子波函數(shù)以及末態(tài)的黃-里斯因子(Huang-Rhys factor)以及用于估算非輻射俘獲系數(shù)的(δ)函數(shù)的高斯展寬(gaussian smearing)和索莫菲因子(sommerfeld factor),還可以獲得該缺陷初態(tài)與末態(tài)的一維位形圖,輸出為圖片ccdiagram.png,如下所示。
GaN中缺陷C_N1從-1價(jià)到0價(jià)的一維位形圖。
可以看到,相比parabolic方法,采用spline的擬合方法將使得俘獲勢(shì)壘增加將近0.3 eV。我們建議總是優(yōu)先采用parabolic方法進(jìn)行勢(shì)能面擬合。最后,CDC模塊會(huì)根據(jù)超胞體積、載流子有效質(zhì)量等數(shù)據(jù)結(jié)合非輻射俘獲系數(shù)的公式計(jì)算輸出室溫下該系數(shù)的大小,并在目錄/cdc下輸出nonradiative_rate.dat文件和圖片coefficient.png,如下所示,其中給出了非輻射俘獲系數(shù)以及非輻射俘獲截面隨溫度的變化。
GaN中缺陷C_N1從-1價(jià)到0價(jià)空穴俘獲系數(shù)隨溫度的變化關(guān)系。
以下內(nèi)容來(lái)自CDC模塊的程序日志5cdc.out:
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光譜
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軟件包
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DASP
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原文標(biāo)題:產(chǎn)品教程丨GaN中 (C_N) 缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算(下)
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