測(cè)頭系統(tǒng)是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的數(shù)據(jù)采集傳感器系統(tǒng)，是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，測(cè)頭精度的高低決定了坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的功能、工作效率、精度與測(cè)頭密切相關(guān)。在對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量時(shí)，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)能夠根據(jù)測(cè)頭系統(tǒng)探測(cè)工件，返回工件表面的點(diǎn)數(shù)據(jù)，通過(guò)蔡司三坐標(biāo)的軟件系統(tǒng)計(jì)算各類幾何形狀、尺寸等。

蔡司三坐標(biāo)

移動(dòng)橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
測(cè)頭的分類
按結(jié)構(gòu)原理，測(cè)頭可分為機(jī)械式、光學(xué)式和電氣式。
按測(cè)量方法，測(cè)頭可分為接觸式和非接觸式。
測(cè)頭系統(tǒng)的組成
測(cè)頭系統(tǒng)包括分度測(cè)座、測(cè)頭及其附件，其附件包括測(cè)桿、加長(zhǎng)桿和探針。

1、測(cè)座

Pantec 測(cè)座是探測(cè)系統(tǒng)中連接Mars系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)移動(dòng)軸與測(cè)頭的部分，是一款全自動(dòng)旋轉(zhuǎn)測(cè)座。測(cè)頭信號(hào)通過(guò)測(cè)座同三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制系統(tǒng)的測(cè)頭接口相連，可實(shí)現(xiàn)測(cè)頭在A 軸和B 軸以7.5 度為增量移動(dòng)，該測(cè)座具有720個(gè)可重復(fù)定位空間位置，可配置長(zhǎng)達(dá)300mm 加長(zhǎng)桿，具有高重復(fù)性以及機(jī)械式自動(dòng)連接功能。

2、測(cè)頭

測(cè)頭是測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān)，它是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，主體為探測(cè)傳感器，一般由獨(dú)立的控制系統(tǒng)控制，其主要包括測(cè)量力的控制、測(cè)量過(guò)程控制、測(cè)點(diǎn)的感知、與坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)通訊等。三坐標(biāo)測(cè)頭的兩大基本功能是測(cè)微和觸發(fā)瞄準(zhǔn)。

Pantec測(cè)頭是5方向或6方向操作的觸發(fā)式測(cè)頭。由測(cè)頭本體和可分離測(cè)頭吸盤(pán)組成，可以手動(dòng)或自動(dòng)改變測(cè)針的配置而不需要重新定位測(cè)針，在檢測(cè)時(shí)，可節(jié)省很多時(shí)間。

Pantec測(cè)頭

1. 附件
   （1）測(cè)針
   
   安裝在測(cè)頭上，并接觸被測(cè)量元件，包括直測(cè)針、加長(zhǎng)桿、星形測(cè)針等，不同形狀和規(guī)格，確保測(cè)頭不受限制的對(duì)工件所有特征元素進(jìn)行測(cè)量。
2. （2）測(cè)頭更換架
   
   由于被測(cè)工件的復(fù)雜性，在實(shí)際測(cè)量工作中不可能由一個(gè)探針完成所有的測(cè)量任務(wù)，更換架可對(duì)測(cè)量機(jī)測(cè)座上的測(cè)頭/加長(zhǎng)桿/探針組合進(jìn)行快速、可重復(fù)性的更換，在同一測(cè)量系統(tǒng)下對(duì)不同的工件進(jìn)行自動(dòng)化的檢測(cè)。
   
   （3）標(biāo)準(zhǔn)球
   
   中圖儀器標(biāo)配Φ25標(biāo)準(zhǔn)球，也可以根據(jù)用戶需求更換為其它標(biāo)準(zhǔn)球。用來(lái)標(biāo)定和校準(zhǔn)探測(cè)系統(tǒng)。這個(gè)裝置在平時(shí)使用過(guò)程中必須注意保護(hù)，因?yàn)樗菧y(cè)量機(jī)精度的依據(jù)之一，也是使用很頻繁的一個(gè)裝置。
   
   移動(dòng)橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭系統(tǒng)支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)。并且支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。