今天還是繼續ESD的內容，對ESD干擾的耦合路徑進行深入分析。

一、外部測試環境引發的電場耦合

1.1 靜電槍槍體的電場耦合

靜電放電時用手緊握住靜電槍槍體與槍頭連接處，皮膚能夠明顯的感受到虹吸之力，這個就是靜電槍體放電時產生的強電場干擾。當槍體靠近EUT內部的敏感電路、敏感器件敏感布線時兩者之間就會發生電場耦合，造成電路或者器件工作異常，引發不期望的問題現象，使ESD測試試驗結果Fail。

1.2 垂直耦合板與水平耦合板的電場耦合

對垂直耦合板與水平耦合板進行靜電放電測試，由于耦合板本身是通過兩顆470KΩ的電阻連接到金屬地板上，靜電電流無法快速泄放，電荷積累導致耦合板上產生變化的干擾電壓，當EUT靠近耦合板時，耦合板上積累的靜電干擾電壓通過電場耦合到EUT內部敏感電路、敏感布線、敏感元件上，引起靜電放電測試結果Fail。

二、靜電電流泄放路徑中的電場耦合

由于靜電放電電流的高頻變化屬性，在泄放路徑阻抗上產生變化電壓（dv/dt），敏感信號布線、敏感器件、敏感電路靠近時，兩者之間容易發生電場耦合，靜電放電噪聲干擾敏感電路工作狀態，出現異常現象。

2.1 金屬平面與敏感信號之間的電場耦合

靜電放電測試時，希望靜電電流通過金屬參考平面泄放，降低靜電電流對敏感信號的沖擊。而實際上，靜電電流從金屬參考平面上泄放時，會在金屬平面上產生強電場干擾，當敏感信號、敏感電路模塊靠近金屬參考平面時，兩者之間發生電場耦合，導致敏感電路模塊受到干擾，導致系統工作狀態出現異常。

審核編輯：劉清