掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微鏡的原理、特點(diǎn)、優(yōu)點(diǎn)和分類進(jìn)行全面介紹，以便您更好地了解掃描電子顯微鏡。

掃描電子顯微鏡的工作原理

掃描電子顯微鏡是以電子的特性為基礎(chǔ)的。他們使用聚焦電子束來(lái)取代傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡中的可見(jiàn)光。他們使用高速電子束與樣品表面上的電子相互作用，引起電子發(fā)射。這些發(fā)射的二次電子被探測(cè)器探測(cè)到。接收并轉(zhuǎn)換成更高分辨率和更詳細(xì)的圖像。

掃描電子顯微鏡主要由電子槍、聚焦系統(tǒng)、掃描線圈、樣品臺(tái)和檢測(cè)器組成。電子槍產(chǎn)生電子束，然后通過(guò)聚焦系統(tǒng)將電子束集中在一個(gè)很小的區(qū)域上。通過(guò)掃描線圈的控制，在掃過(guò)樣品表面時(shí)，與樣品中的原子和分子相互作用，產(chǎn)生信號(hào)。這些信號(hào)被探測(cè)器捕獲后，通過(guò)信號(hào)處理器進(jìn)行處理，最終轉(zhuǎn)換成高質(zhì)量的圖像。

掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

1. 高分辨率：掃描電子顯微鏡具有非常高的分辨率，可以觀察到微小樣品結(jié)構(gòu)和表面形態(tài)等各種細(xì)節(jié)。最新的掃描電子顯微鏡的二次電子成像分辨率已經(jīng)達(dá)到3～4nm。

2. 高倍鏡：掃描電子顯微鏡可進(jìn)行高倍鏡觀察。放大倍數(shù)可以從原位的幾倍到200,000倍左右，使顯微組織可以清晰地呈現(xiàn)出來(lái)。

3. 非接觸觀察：與透射電子顯微鏡不同，掃描電子顯微鏡采用非接觸觀察，不會(huì)破壞樣品的形狀和結(jié)構(gòu)。

4. 增加深度：掃描電子顯微鏡可以在不同深度進(jìn)行掃描和分析，使我們能夠觀察到傳統(tǒng)顯微鏡無(wú)法顯示的樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)。可用于直接觀察和微裂縫分析。因此，目前大多數(shù)微斷裂分析工作是使用掃描電子顯微鏡完成的。

5. 三維重建：通過(guò)采集標(biāo)本各個(gè)角度的圖像，掃描電子顯微鏡可以進(jìn)行三維重建，提供更全面的信息。

6. 數(shù)字化處理：對(duì)掃描電子顯微鏡圖像進(jìn)行數(shù)字化處理和分析，提高了觀察和分析的準(zhǔn)確性和可靠性。可與能譜儀、電荷耦合器件(CCD)等配套使用。要進(jìn)行化學(xué)成分分析、能譜分析等。

掃描電子顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

1. 材料學(xué)：掃描電鏡可以幫助研究人員觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)并分析其成分和表面形貌。這對(duì)于新材料的研發(fā)、材料性能的改進(jìn)和質(zhì)量的控制都是非常重要的。

2. 生命科學(xué)：掃描電子顯微鏡也廣泛應(yīng)用于生物學(xué)領(lǐng)域，并可幫助研究細(xì)胞和組織的結(jié)構(gòu)、微生物的形態(tài)和生態(tài)等。

3. 納米技術(shù)：掃描電子顯微鏡的高分辨率和高靈敏度使其成為研究納米領(lǐng)域的重要工具。通過(guò)掃描電鏡，科學(xué)家可以觀察納米級(jí)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和形貌，調(diào)整和優(yōu)化納米材料的性能。

4. 能源領(lǐng)域：掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池、燃料電池、電子設(shè)備等能源領(lǐng)域的研究。它幫助科學(xué)家觀察微觀結(jié)構(gòu)中的缺陷或不均勻性，并優(yōu)化材料性能。

蔡司掃描電鏡Sigma系列

用于高質(zhì)量成像和高級(jí)分析顯微鏡的FE-SEM蔡司掃描電鏡Sigma系列將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM) 技術(shù)與出色的用戶體驗(yàn)相結(jié)合。構(gòu)建您的成像和分析程序并提高工作效率。研究新材料、用于質(zhì)量檢驗(yàn)的顆粒或生物或地質(zhì)標(biāo)本。在高分辨率成像方面毫不妥協(xié)-轉(zhuǎn)向低電壓并在1kV 或更低電壓下受益于增強(qiáng)的分辨率和對(duì)比度。使用一流的EDS幾何結(jié)構(gòu)執(zhí)行高級(jí)分析顯微鏡 ,并以兩倍的速度和更高的精度獲得分析數(shù)據(jù)。

審核編輯 黃宇