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電容器失效模式有哪些?陶瓷電容失效的內(nèi)部因素與外部因素有哪些?

工程師鄧生 ? 來(lái)源:未知 ? 作者:劉芹 ? 2023-12-21 10:26 ? 次閱讀

電容器失效模式有哪些?陶瓷電容失效的內(nèi)部因素與外部因素有哪些呢?

電容器失效模式主要分為內(nèi)部失效和外部失效兩大類。內(nèi)部失效是指電容器內(nèi)部元件本身發(fā)生故障導(dǎo)致失效,而外部失效是因外部因素引起的失效。下面是關(guān)于陶瓷電容失效的內(nèi)部因素和外部因素的詳細(xì)介紹。

一、陶瓷電容失效的內(nèi)部因素:

1. 電解液干化:陶瓷電容器的電介質(zhì)一般是陶瓷材料,內(nèi)部不含電解液。但是,在某些特殊情況下,比如高溫、高濕度環(huán)境下,電場(chǎng)和溫度作用下,電容器內(nèi)部的電解液會(huì)發(fā)生干化,導(dǎo)致電容器失效。

2. 介質(zhì)擊穿:介質(zhì)擊穿是指介質(zhì)中存在一定電場(chǎng)強(qiáng)度時(shí),電容器的電介質(zhì)突破絕緣層,形成擊穿的失效模式。這可能是由于介質(zhì)中存在缺陷或純度不高,或者是在高電場(chǎng)作用下,介質(zhì)無(wú)法承受電場(chǎng)強(qiáng)度而發(fā)生擊穿。

3. 外殼破裂:陶瓷電容器通常由內(nèi)部電介質(zhì)和外部殼體組成。當(dāng)外部殼體受到外力碰撞或過(guò)大的應(yīng)力作用時(shí),容易導(dǎo)致殼體破裂,從而引起電容器的失效。

4. 引線斷裂:陶瓷電容器的引線是將內(nèi)部電介質(zhì)與外部電路連接的部分。引線的質(zhì)量和焊接方式、工藝等都會(huì)對(duì)電容器的可靠性產(chǎn)生影響,如果引線焊接不牢固或引線存在缺陷,就容易出現(xiàn)引線斷裂導(dǎo)致電容器失效的情況。

5. 溫度應(yīng)力:陶瓷電容器在工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生一定的熱量,如果長(zhǎng)時(shí)間工作在高溫環(huán)境中,會(huì)導(dǎo)致電容器內(nèi)部的陶瓷材料受熱膨脹,從而產(chǎn)生溫度應(yīng)力,加速陶瓷材料的老化和失效。

二、陶瓷電容失效的外部因素:

1. 溫度:溫度是影響陶瓷電容器性能和可靠性的重要因素之一。高溫會(huì)使電容器內(nèi)部的材料老化,從而引起失效。

2. 濕度:在高濕度環(huán)境中,陶瓷電容器的介質(zhì)會(huì)吸濕,導(dǎo)致電容器性能下降,甚至失效。

3. 電壓過(guò)高:如果陶瓷電容器長(zhǎng)時(shí)間工作在電壓過(guò)高的環(huán)境下,會(huì)對(duì)電容器的介質(zhì)造成損傷,導(dǎo)致失效。

4. 電流過(guò)大:如果陶瓷電容器承受超過(guò)額定電流的電流沖擊,長(zhǎng)時(shí)間工作在電流過(guò)大的環(huán)境中,會(huì)導(dǎo)致電容器失效。

5. 振動(dòng)和沖擊:陶瓷電容器在運(yùn)輸、安裝、使用過(guò)程中會(huì)受到振動(dòng)和沖擊的影響。如果振動(dòng)和沖擊過(guò)大,會(huì)導(dǎo)致電容器內(nèi)部元件松動(dòng)、破損,從而引起失效。

6. 不正確的使用:如果使用陶瓷電容器的環(huán)境條件、工作電壓、溫度等超出了其承受范圍,使用不當(dāng)或安裝錯(cuò)誤等原因也會(huì)導(dǎo)致失效。

綜上所述,陶瓷電容器失效的內(nèi)部因素和外部因素有很多,需要我們?cè)谠O(shè)計(jì)、制造和使用過(guò)程中注意合理選擇材料、優(yōu)化工藝,確保電容器的可靠性和耐用性。同時(shí)要在使用和維護(hù)過(guò)程中注意電子元件的正確使用與保養(yǎng),以延長(zhǎng)其使用壽命。這樣才能更好地提高電容器的性能和可靠性,減少失效率,確保電子產(chǎn)品的正常工作和使用。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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