蔡司工業(yè)CT

X射線計算機斷層掃描 (CT) 作為一種靈活的非接觸式測量技術(shù)，已成功進(jìn)入坐標(biāo)計量領(lǐng)域，用于對工業(yè)零件進(jìn)行尺寸測量。
與傳統(tǒng)的接觸式和光學(xué)坐標(biāo)測量機相比，蔡司工業(yè)CT 具有多種優(yōu)勢，可以讓工程師執(zhí)行任何其他測量技術(shù)通常無法完成的無損測量任務(wù)。例如，以高信息密度檢測復(fù)雜、高價值的增材制造產(chǎn)品，且無需切割或破壞組件。
蔡 司 C T 工 作 原 理

X 射線 蔡司工業(yè)CT 系統(tǒng)的三個主要組件是 X 射線源、轉(zhuǎn)臺和探測器。存在不同的 CT 系統(tǒng)配置：例如，可以使用平板探測器 (DDA) 或線性二極管陣列探測器 (LDA)。
X 射線源到探測器的距離和 X 射線源到物體的距離定義了 CT 掃描的幾何放大倍數(shù)和零件 3D CT 模型的體素大小。NSI 系統(tǒng)產(chǎn)品組合中提供的可變 X 射線源到探測器距離的使用也是航空航天應(yīng)用獲得最佳信號的基礎(chǔ)。
CT技術(shù)基于X射線的衰減原理。因此，零件的尺寸和厚度以及材料密度對其有效使用起著重要作用。部件越大、材料越致密，X 射線穿透所需的功率就越大。
CT 掃描的輸出是零件的 3D 模型，根據(jù)該模型可以執(zhí)行非常精確的測量，而無需任何形式的接觸或需要切割或破壞零件。CT 還可以對材料進(jìn)行檢查并識別內(nèi)部缺陷，例如空隙、裂紋等。在檢查復(fù)合材料時，CT 還可用于識別分層。

蔡司CT使用示例

CT 能夠定位零件 3D 模型中的孔隙并提供有關(guān)不同孔隙體積的信息。可檢測到的孔隙或缺陷的大小取決于掃描分辨率，這也是零件尺寸、幾何形狀和材料的函數(shù)。
NSI Subpix 等先進(jìn)掃描技術(shù)使工程師能夠提高分辨率，從而在給定分辨率下獲得更大的視野。
CT 應(yīng)用包括標(biāo)稱/實際比較，其中記錄實際零件的體積模型并與其標(biāo)稱模型（通常是 CAD 模型）進(jìn)行比較，以及復(fù)合材料的纖維分析。

蔡司工業(yè)CT優(yōu)點及注意事項

與傳統(tǒng)的測量技術(shù)相比，蔡司工業(yè)CT 具有一系列廣泛的優(yōu)勢，包括能夠以非接觸式、非破壞性的方式對復(fù)雜和/或不可訪問的特征進(jìn)行元件測量，并具有高信息密度。
在航空航天應(yīng)用中，這是至關(guān)重要的，因為零件成本通常很高，并且不允許進(jìn)行破壞性測試。CT 還可以讓工程師在進(jìn)行高成本加工過程之前快速評估零件的一致性。
例如，當(dāng)測量渦輪葉片的自由曲面時，CT 可以在比傳統(tǒng)接觸式 CMM 更短的時間內(nèi)提供高密度的點，并且作為一種非接觸式技術(shù)，在檢查自由曲面時不需要探頭尖端補償。
使用 CT 時要考慮的基本因素包括可實現(xiàn)的幾何放大倍率，這取決于零件尺寸和幾何形狀、零件材料和厚度。

蔡司工業(yè)CT 無損檢測系統(tǒng)

工業(yè)計算機斷層掃描（CT）為您提供了全新的洞見，無論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質(zhì)，使用蔡司工業(yè)CT-ZEISS METROTOM 1，可以輕松檢測出工件的隱藏缺陷。
蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專家，十多年以來，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)，快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。

蔡司計算機斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為行業(yè)提供了可靠的X射線技術(shù)和無損質(zhì)量保證。

審核編輯 黃宇