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理論效率達(dá)28.9%,Poly Finger助力TOPCon電池前側(cè)局部鈍化接觸優(yōu)化

美能光伏 ? 2024-11-30 01:06 ? 次閱讀

TOPCon電池因其高效率和穩(wěn)定性在全球光伏市場(chǎng)中表現(xiàn)突出。但由于硼擴(kuò)散、激光損傷和金屬-半導(dǎo)體接觸,前側(cè)存在顯著的復(fù)合損失。研究設(shè)計(jì)了前側(cè)局部多晶硅指狀結(jié)構(gòu),與傳統(tǒng)TOPCon和全面積多晶硅鈍化電池進(jìn)行比較。通過(guò)模擬,發(fā)現(xiàn)抑制前表面場(chǎng)(FSF)和接觸區(qū)域的復(fù)合是提高電池性能的關(guān)鍵策略。美能TLM接觸電阻率測(cè)試儀,以其快速、靈活、精準(zhǔn)的檢測(cè)能力,為雙面TOPCon太陽(yáng)能電池的接觸電阻和鈍化性能提供了強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)支持。

模擬細(xì)節(jié)與方法材料


模擬策略:對(duì)新型多電子選擇性接觸電池建模,考慮多種復(fù)合和遷移率模型,用 FELA 分析功率損失。實(shí)驗(yàn)材料與制備:使用隆基公司生產(chǎn)的 n 型直拉單晶硅電池,經(jīng)過(guò)多步處理,包括清洗、制絨、沉積多晶硅層、摻雜、退火、接觸電阻測(cè)試等。選擇性接觸與結(jié)構(gòu)分析


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選擇性接觸的不同配置的示意圖及傳統(tǒng)和雙面TOPCon電池的結(jié)構(gòu)

選擇性接觸的優(yōu)化:

通過(guò)調(diào)整接觸電阻率(ρc)表面復(fù)合電流密度(J0),可以優(yōu)化太陽(yáng)能電池的選擇性。選擇性系數(shù)(S10)依賴于J0和ρc的對(duì)數(shù)關(guān)系,這影響了太陽(yáng)能電池的理論最大效率(ηmax)。太陽(yáng)能電池結(jié)構(gòu)的比較:

傳統(tǒng)TOPCon電池與雙面TOPCon電池相比,后者在減少前側(cè)復(fù)合損失方面具有優(yōu)勢(shì)。雙面TOPCon結(jié)構(gòu)通過(guò)優(yōu)化前側(cè)的多晶硅鈍化區(qū)域,可以減少光學(xué)損失,從而提高電池性能

自由能損失分析:

全面積多晶硅鈍化會(huì)導(dǎo)致顯著的前側(cè)吸收損失,限制了電池的潛在效率。局部多晶硅鈍化結(jié)構(gòu)可以顯著減少前側(cè)吸收損失,從而提高電池的潛在效率至26.42%。局部多晶硅指狀結(jié)構(gòu)影響


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電氣特性和前側(cè)多晶硅指狀結(jié)構(gòu)(poly finger width)的變化關(guān)系

電池效率的峰值集中在多晶硅指狀結(jié)構(gòu)寬度20-45μm的范圍內(nèi),當(dāng)表面復(fù)合電流密度(J0)低于8 fA/cm2時(shí),效率超過(guò)26.5%。

當(dāng)多晶硅指狀結(jié)構(gòu)寬度小于40μm時(shí),F(xiàn)F幾乎不受多晶硅鈍化的影響。當(dāng)寬度超過(guò)40μm時(shí),F(xiàn)F對(duì)鈍化值J0和多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的寬度變得敏感

多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的寬度對(duì)太陽(yáng)能電池的效率填充因子短路電流密度有顯著影響

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電氣特性與前側(cè)多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的接觸電阻(ρc)變化的關(guān)系

電池的效率強(qiáng)烈依賴于多晶硅/硅氧化物界面的隧穿電阻高效率出現(xiàn)在接觸電阻低于2 mΩ cm2的區(qū)域。FF的區(qū)域幾乎不受多晶硅鈍化的影響,但當(dāng)多晶硅指狀結(jié)構(gòu)寬度超過(guò)一定值時(shí),F(xiàn)F對(duì)接觸電阻和多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的寬度變得敏感。Jsc和Voc幾乎完全依賴于多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的面積比。因此在設(shè)計(jì)雙面TOPCon太陽(yáng)能電池時(shí),需要仔細(xì)考慮多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的寬度接觸電阻,以及如何通過(guò)優(yōu)化這些結(jié)構(gòu)來(lái)提高電池的整體性能。背面多晶硅參數(shù)影響


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TOPCon電池的前側(cè)多晶硅(poly-Si)與晶硅界面特性分析

通過(guò)TLM測(cè)量發(fā)現(xiàn),接觸電阻受到多晶硅層的摻雜濃度高溫?cái)U(kuò)散過(guò)程的影響。高溫?cái)U(kuò)散可能導(dǎo)致更多的針孔形成,這有利于載流子的傳輸,但同時(shí)也可能增加接觸電阻。

低摻雜濃度接觸電阻范圍為1.0 mΩ cm2到1.4 mΩ cm2,而高摻雜濃度的接觸電阻范圍為0.8 mΩ cm2到1.2 mΩ cm2

通過(guò)優(yōu)化擴(kuò)散過(guò)程和摻雜濃度,可以有效降低接觸電阻,從而提高太陽(yáng)能電池的整體性能。

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TOPCon電池背面多晶硅(poly-Si)的優(yōu)化模擬

隨著多晶硅方塊電阻和厚度的變化,電池的高效率出現(xiàn)在方塊電阻低于100 Ω/sq且多晶硅厚度小于30nm的區(qū)間。

FF隨著方塊電阻的減小和多晶硅厚度的增加而增加

較薄的多晶硅厚度有助于減少寄生吸收,從而提高Jsc。每增加20nm的多晶硅厚度,太陽(yáng)能電池的Jsc會(huì)減少0.1 mA/cm2

Voc相對(duì)穩(wěn)定,不受方塊電阻的影響,這表明通過(guò)優(yōu)化其他參數(shù)可以進(jìn)一步提高Voc。優(yōu)化策略的結(jié)果與展望


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雙面TOPCon電池的電性能和光譜響應(yīng)

通過(guò)去除 FSF(前表面場(chǎng))以及引入多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的策略,開(kāi)路電壓 Voc 和填充因子 FF 得到了改善,效率提升到了 26.62%Voc 達(dá)到738.7 mVFF 超過(guò)85.16%

考慮到金屬遮光、反射率和多晶硅薄膜的寄生吸收,短路電流密度Jsc 被優(yōu)化到了 42.31 mA/cm2

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雙面TOPCon電池的制備和優(yōu)化策略的展望

雙面TOPCon太陽(yáng)能電池的優(yōu)化方案包括:多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)、雙面原子層沉積(ALD)以及 LECO 工藝等。這些方法有助于進(jìn)一步提高電池的鈍化和接觸性能,有可能在大尺寸電池上實(shí)現(xiàn)接近27%的高效率。

通過(guò)綜合考慮結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)工藝優(yōu)化,可以顯著提高TOPCon太陽(yáng)能電池的性能,并為未來(lái)的工業(yè)化生產(chǎn)提供了清晰的路線圖。

局部多晶硅指狀結(jié)構(gòu)的鈍化和電流優(yōu)勢(shì)彌補(bǔ)了FF不足,優(yōu)化接觸性能可使效率超26.5%。多晶硅寄生吸收受限下,局部選擇性接觸對(duì)電池性能影響大。優(yōu)化前后多晶硅參數(shù)后,模擬效率達(dá)26.62%,雙面TOPCon理論效率達(dá) 28.9%美能TLM接觸電阻測(cè)試儀


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美能TLM接觸電阻測(cè)試儀所具備接觸電阻率測(cè)試功能,可實(shí)現(xiàn)快速、靈活、精準(zhǔn)檢測(cè)。

  • 靜態(tài)測(cè)試重復(fù)性≤1%動(dòng)態(tài)測(cè)試重復(fù)性≤3%
  • 線電阻測(cè)量精度可達(dá)5%或0.1Ω/cm
  • 接觸電阻率測(cè)試與線電阻測(cè)試隨意切換

定制多種探測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量和分析

美能TLM接觸電阻率測(cè)試儀,以其快速、靈活、精準(zhǔn)的檢測(cè)能力,為雙面TOPCon太陽(yáng)能電池的接觸電阻和鈍化性能提供了強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)支持。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和測(cè)試設(shè)備的不斷升級(jí),雙面TOPCon電池將在未來(lái)光伏市場(chǎng)中扮演更加重要的角色,為全球清潔能源的發(fā)展貢獻(xiàn)更大的力量。

原文出處:Optimizing strategy of bifacial TOPCon solar cells with front-side local passivation contact realized by numerical simulation

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