電子元件的核心作用
在電子設備中,電子元件扮演著基礎而關鍵的角色,它們是電子通信、數據處理和自動化控制等技術領域的基石。
篩選的必要性
為了確保電子元件在其整個使用壽命內都能穩定工作,避免因元件本身的缺陷或制造過程中的差異導致的早期失效,必須依據應用環境選擇適當的測試類型和條件進行篩選,以排除可能早期失效的元件。
篩選的分類
可靠性篩選涵蓋一次篩選、二次篩選、補充篩選、特定篩選和批次評價等多種類型。
一次篩選是制造商根據規范和標準進行的篩選;
二次篩選是為了控制電子元器件的質量,在其投入使用前再次進行檢驗,是由用戶進行的篩選工作;
補充篩選是使用方有特殊要求,委托相關單位或制造商再次進行的篩選,特定篩選主要是針對一些有質量要求的電子元器件開展的特定評價試驗;
批次評價則是通過對同一批電子元件進行抽樣測試,來評估該批次的整體質量可靠性。
設計篩選程序的思路
1. 識別元件潛在的失效模式
元件的失效模式主要分為封裝失效和電氣性能失效。封裝失效可以通過環境因素加速潛在缺陷的暴露,以滿足設計指標。電氣性能失效包括連接性失效、功能性失效和電氣參數失效,涉及斷路、短路、電阻變化等問題,以及功能喪失或參數偏差。
![wKgZPGdjoteAHKMMAAEzyPjhr68246.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/03/03/wKgZPGdjoteAHKMMAAEzyPjhr68246.png)
封裝失效(接觸區空洞超過接觸面積的1/2)
![wKgZO2djotyAKI6ZAAOwClYZTp8960.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/03/0C/wKgZO2djotyAKI6ZAAOwClYZTp8960.png)
連接性失效(鍵合絲之間接觸)
![wKgZPGdjouGABvciAAGK3kFcxg0272.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/03/03/wKgZPGdjouGABvciAAGK3kFcxg0272.png)
工藝控制不足導致多余物存在于器件內部
2. 根據失效模式選擇試驗類型
金鑒實驗室的專業團隊能夠根據客戶需求,選擇最合適的試驗類型。依據GJB7243-2011《軍用電子元件篩選技術要求》,典型的篩選項目包括高溫存儲、電氣老化、溫度循環、恒定加速度、粒子碰撞噪聲檢測、密封測試、X射線檢測和C模式掃描聲學顯微鏡超聲檢測等。
3. 確定最終試驗方案
在確定最終試驗方案時,應考慮元件的潛在失效模式、電氣特性、材料屬性和封裝工藝,并據此設定試驗條件。優先執行失效概率高的試驗,并考慮到經濟性和實效性,優先選擇成本效益高和耗時短的試驗。典型設備圖所示:
![wKgZO2djouqAVnR4AARW0df-1AM448.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/03/0C/wKgZO2djouqAVnR4AARW0df-1AM448.png)
結論
電子元件的固有可靠性是產品設計的關鍵。由于人為因素、工藝水平、設備條件等影響,成品可能無法達到預期的可靠性。因此,在電子元件裝機前,通過篩選排除早期失效的產品是確保整機可靠性的關鍵步驟。
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