華為手機(jī)項(xiàng)目測試及可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)分享
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
華為
+關(guān)注
關(guān)注
216文章
34532瀏覽量
253002 -
可靠性測試
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
90瀏覽量
14236
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
如何測試光耦的性能與可靠性
光耦作為電氣隔離的關(guān)鍵組件，其性能和可靠性直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全性。因此，對光耦進(jìn)行嚴(yán)格的性能測試和可靠性評估是必不可少的。 光耦性能測試
可靠性測試：HAST與PCT的區(qū)別
HAST測試的核心宗旨HAST測試的核心宗旨宗旨：HAST測試的主要宗旨是通過模擬極端環(huán)境條件，加速半導(dǎo)體元器件的失效過程，以此來驗(yàn)證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性。這種
環(huán)境可靠性測試有哪些項(xiàng)目
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，環(huán)境可靠性測試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中的潛在問題。氣候環(huán)境
不同制造商TOPCon光伏組件的老化測試：性能、穩(wěn)定性與可靠性
能光伏」紫外老外試驗(yàn)箱、動(dòng)態(tài)載荷測試儀、溫濕度綜合環(huán)境箱等一系列可靠性檢測設(shè)備，可模擬外界的溫濕度、UV、載荷等環(huán)境因素，對TOPCon光伏組件進(jìn)行可靠性測試。研
瞻芯電子參與編制SiC MOSFET可靠性和動(dòng)態(tài)開關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)
日前，在第十屆國際第三代半導(dǎo)體論壇（IFWS）上，第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟（CASA）發(fā)布了9項(xiàng)碳化硅 (SiC) MOSFET測試與可靠性標(biāo)準(zhǔn)，旨在為SiC MOSFET功率器件提供一套科學(xué)、合理的
半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)
的第三方檢測與分析機(jī)構(gòu)，提供全面的可靠性測試服務(wù)，幫助客戶確保產(chǎn)品在各種條件下的穩(wěn)定性與性能。產(chǎn)品可靠性的重要性產(chǎn)品可靠性直接關(guān)聯(lián)到產(chǎn)品能否
PCB可靠性測試：開啟電子穩(wěn)定之旅
PCB 可靠性測試是確保印刷電路板質(zhì)量的一系列檢測。它主要模擬 PCB 在實(shí)際使用中面臨的各種情況。包括環(huán)境測試，像檢測其在高低溫、濕度變化等條件下是否能正常工作，避免腐蝕等問題；還有機(jī)械測試
PCBA測試詳解：功能、性能、可靠性，一文掌握核心要點(diǎn)！
PCBA（Printed Circuit Board Assembly）測試是電子產(chǎn)品制造過程中至關(guān)重要的一環(huán)。它旨在確保電路板及其上安裝的電子元器件按照設(shè)計(jì)要求正確工作，從而達(dá)到預(yù)期的性能和可靠性
絕緣電阻的重要性及可靠性測試
電阻越高，晶振的絕緣性能越好，其抵抗漏電流的能力也就越強(qiáng)，從而提高了工作可靠性和穩(wěn)定性。 絕緣電阻的標(biāo)準(zhǔn) 不同品牌和型號的晶振其絕緣電阻標(biāo)準(zhǔn)會(huì)有所不同。以KOAN諧振器為例，其絕緣電阻最低要求為500MΩ。 ? 絕緣電阻
LED電源性能測試項(xiàng)目：電性能測試、可靠性測試、安規(guī)測試
在LED照明應(yīng)用日益普及的今天，對LED電源進(jìn)行精確測試顯得尤為重要。測試涵蓋了輸入功率因數(shù)、紋波噪聲、負(fù)載調(diào)整率等多個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)，以確保電源的性能和穩(wěn)定性。本文將詳細(xì)介紹LED電源的測試項(xiàng)目
AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計(jì)與測試方法
OSHIDA ?AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計(jì)與測試方法 AC/DC電源模塊是一種將交流電能轉(zhuǎn)換為直流電能的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中，如電腦、手機(jī)充電器、顯示器等。由于其關(guān)系到設(shè)備的供電穩(wěn)定性
第三代SiC功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)可靠性測試系統(tǒng)介紹
的驗(yàn)證》和《AEC Q101車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測試驗(yàn)證》等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
發(fā)表于 04-23 14:37
?4次下載
功率器件環(huán)境可靠性測試的加速老化物理模型
（HighHumidityHighTemperatureReverseBias，H3TRB）等環(huán)境可靠性測試是進(jìn)行功率器件壽命評估所必備的試驗(yàn)。由于不同標(biāo)準(zhǔn)下的試驗(yàn)條件并不相同，因而理解上述環(huán)境
提升開關(guān)電源可靠性：全面了解測試項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)
開關(guān)電源可靠性測試是檢測開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測試也是開關(guān)電源測試的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，以此評估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
可靠性測試中,如何減少HCI和電遷移的測試時(shí)間？
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個(gè)性能參數(shù)，該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時(shí)間長度而穩(wěn)步下降。
工商網(wǎng)監(jiān)
評論