服務范圍橫向科研技術(shù)?持和服務、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行。檢測項目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究：l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
服務內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
服務范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測標準●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110●J-STD-020●JS-001/002●JESD78檢測項目（1）芯片級可靠性驗證試驗
2024-03-14 16:28:30
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團隊及先進
2024-03-13 16:26:07
評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實際使用中可能會遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能。可參考標準：MIL-STD- 883E- 1011.9B。
2024-03-08 12:39:08
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整車高低溫交變濕熱試驗室以其獨特的模擬功能和精準的測試能力，為車企提供了強大的環(huán)境可靠性試驗支持。在日益激烈的汽車市場競爭中，擁有這樣一臺先進的測試設備，無疑是車企提升產(chǎn)品品質(zhì)、增強市場競爭力的重要保障。因此，對于追求卓越品質(zhì)和性能的車企而言，整車高低溫交變濕熱試驗室無疑是不可或缺的必備之選。
2024-02-23 16:17:53245 
In Package）產(chǎn)品集成度高、結(jié)構(gòu)復雜、可靠性要求高等特點，對塑封工藝帶來了挑戰(zhàn)，目前國內(nèi)工業(yè)級塑封產(chǎn)品不能完全滿足軍用可靠性要求，工業(yè)級塑封產(chǎn)品常在嚴酷的環(huán)境應力試驗下表現(xiàn)出失效。本文針對工業(yè)級塑封 SIP 器件在可靠性試驗過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象進行分析研
2024-02-23 08:41:26110 
高加速壽命試驗是加速電子產(chǎn)品在實際使用中會出現(xiàn)的損壞因素，以比實際使用更短的時間引發(fā)失效，藉此鑒定產(chǎn)品是否符合設計要求，以及對失效模式分析并提出改進方案。
2024-01-31 09:28:50168 
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設計產(chǎn)品。檢測標準● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
AEC-Q100認證試驗廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。服務背景IC作為
2024-01-29 21:43:34
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。服務背景AEC-Q101對對各類半導體
2024-01-29 21:35:04
在當今的半導體市場，公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營，必須確保產(chǎn)品達到或超過基本的質(zhì)量標準和可靠性
2024-01-25 10:21:16997 
、濕度相關(guān)的可靠性試驗，對失效的產(chǎn)品進行部件或者材料更換，直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設計，然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進行分析，對此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 Lab Companion 實驗室在燈具
2024-01-11 16:48:40143 
將LED縮小到微型尺寸后，將會帶來制造和可靠性方面的影響，其關(guān)鍵難點包括將Micro LED像素陣列與操作顯示器的硅控制電路集成。
2023-12-20 13:55:07204 
▼關(guān)注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 
的各種失效模式。 如結(jié)合失效分析，可進一步弄清導致產(chǎn)品失效的主要失效機理，作為可靠性設計、可靠性預測、改進新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗條件等的依據(jù)。 如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大
2023-12-14 17:29:54350 
成分發(fā)現(xiàn)，須莊狀質(zhì)是硫化銀晶體。原來電阻被來自空氣中的硫給腐蝕了。 失效分析發(fā)現(xiàn)，主因是電路板上含銀電子元件如貼片電阻、觸點開關(guān)、繼電器和LED等被硫化腐蝕而失效。銀由于優(yōu)質(zhì)的導電特性，會被使用作為電極、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
環(huán)境試驗與可靠性試驗的區(qū)別
2023-12-08 09:31:46302 
振弦采集儀在安全監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中是一種常見的監(jiān)測手段，它可以通過采集巖體或土體振動信號來判斷其穩(wěn)定性和變形情況。在實際應用中，振弦采集儀的可靠性和精度是極為重要
2023-12-06 13:31:33155 
振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀是一種用于土體和巖體監(jiān)測的重要設備，它可以通過測量振動信號來獲取土體或巖體的力學參數(shù)，如應力、應變、彈性模量等。而振弦采集儀的可靠性和精度
2023-12-06 13:27:26121 LED器件占LED顯示屏成本約40%～70%，LED顯示屏成本的大幅下降得益于LED器件的成本降低。LED封裝質(zhì)量的好壞對LED顯示屏的質(zhì)量影響較大。封裝可靠性的關(guān)鍵包括芯片材料的選擇、封裝材料
2023-12-06 08:25:44382 
。國內(nèi)外大量事實已證明了這一點，產(chǎn)品設計應采用模塊化設計方法。
（2）采用模塊和標準部件。
模塊和標準部件是經(jīng)過大量試驗和廣泛使用后證明為高可靠性的產(chǎn)品，因而能充分消除設備的缺陷和隱患，也為出現(xiàn)問題之后
2023-11-22 06:29:05
摘 要：在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設備和可靠性增長工作的推動下，可靠性技術(shù)和工程實踐得到了深入發(fā)展。結(jié)合工程實際經(jīng)驗，深入討論了可靠性增長過程及實現(xiàn)途徑。在保持試驗條件和改進過程不變的條件下，實施了對具體型號
2023-11-21 10:29:07425 
除了新能源汽車需要做快速溫變試驗箱可靠性檢測，還有什么產(chǎn)品需要進行可靠性檢測呢? 我們一起來看看？
2023-11-20 17:24:29223 
將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《LED驅(qū)動器可靠性低的幾點原因.doc》資料免費下載
2023-11-15 10:00:49
0 國家電網(wǎng)：在就地化保護入網(wǎng)檢測中，首次引入可靠性試驗，驗證產(chǎn)品可靠性設計水平和壽命指標。在關(guān)于新型一、二次設備（例如：電子式互感器）的科研項目中，增加了可靠性驗證和壽命評估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:04452 
芯片的老化試驗及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細
2023-11-09 09:12:011120 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《鎂合金微弧氧化電源驅(qū)動電路可靠性分析.pdf》資料免費下載
2023-11-06 09:42:400 機械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
分析表明，焊接界面粗糙，平整度較差時，楔形魚尾狀根部容易受傷或粘接不牢固，導致鍵合拉力強度過低。為了提高金絲鍵合工藝可靠性，可以采用補球的工藝，在第二焊點魚尾上種植一個金絲安全球，提高鍵合引線第二
2023-10-26 10:08:26638 
場景即測試空間內(nèi)的失效概率。本文將由此出發(fā)，介紹若干可以用來估計罕見事件發(fā)生概率的可靠性分析方法。 01. 問題定義 我們將一個擁有D個可泛化參數(shù)的邏輯場景等價于? ?維參數(shù)空間? ?，其中? ?是一組隨機變量，其分布函數(shù)由邏輯場景決定，而? ?
2023-10-25 19:10:02253 
1級降額，最大的降額，適用于： a.失效將導致人員傷亡或設備及保護措施的嚴重破壞； b.高可靠性要求的設備卻采用了新技術(shù)新工藝； c.設備失效不能維修； d.系統(tǒng)對設備的尺寸重量有苛刻限制。
2023-10-12 11:04:412359 
基于可靠性試驗所用的菊花鏈測試結(jié)構(gòu)，對所設計的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進行電學測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 
本文主要設計了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對芯片偏移、ＲDL 分層兩個主要失效問題進行了相應的工藝改善。經(jīng)過可靠性試驗對封裝的工藝進行了驗證，通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化，對失效位置定位進行了相應的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410 
通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項措施
2023-09-25 06:26:12
服務內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)振動試驗能力較完善的權(quán)威檢測認證服務機構(gòu)之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動臺，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
服務內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)沖擊試驗能力較完善的權(quán)威檢測認證服務機構(gòu)之一，配備了（1~35）t振動臺、機械沖擊臺、沖擊響應譜試驗臺、跌落試驗臺、輕量級沖擊機、中量級沖擊試驗臺，可滿足國標、國軍標、美軍標
2023-09-21 16:40:57
服務內(nèi)容材料或產(chǎn)品放置在鹽霧試驗設備中，然后通過加熱鹽水溶液產(chǎn)生鹽霧。這些鹽霧顆粒會在試驗樣品表面沉積，并且由于其腐蝕性，可能導致材料或產(chǎn)品的表面腐蝕。鹽霧試驗的主要目的是評估材料和產(chǎn)品的耐蝕性能
2023-09-21 16:33:34
服務內(nèi)容廣電計量可為裝備、航空航天產(chǎn)品、汽車、家電、電工電子產(chǎn)品、電子元器件、儀器儀表等的整機及其結(jié)構(gòu)件、組件等開展軍標降雨和吹雨、強化、滴水，以及外殼防護等級IPX1～IPX9K的防水試驗
2023-09-21 16:30:05
龍騰半導體建有功率器件可靠性與應用實驗中心，專注于產(chǎn)品設計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應用評估，公司參考半導體行業(yè)可靠性試驗條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進行完整可靠性驗證。
2023-09-20 16:29:21808 
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關(guān)系，要提高軸承的可靠性，就必須從軸承的失效形式著手，仔細分析滾動軸承的失效原因，才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212 
產(chǎn)品設計和功能的要求標準。振動試驗的精義在于確認產(chǎn)品的可靠性及提前將不良品在出廠前篩檢出來，并評估其不良品的失效分析，使其成為高水平、高可靠性的產(chǎn)品。
2023-09-13 10:56:252487 
? 走進龍騰實驗室 功率器件可靠性試驗測試項目系列專題（一） ? 可靠性實驗室介紹 ? 龍騰半導體建有功率器件可靠性與應用實驗中心，專注于產(chǎn)品設計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應用評估，公司
2023-09-12 10:23:45698 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 
快速溫變試驗箱(又名快速溫度變化試驗箱)，是產(chǎn)品在設計強度極限下，運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應力和應變
2023-09-04 14:40:08
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導體也是電子設備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 。 高低溫試驗箱在航空電子設備可靠性的驗證與評估中起著重要的作用，主要體現(xiàn)在以下幾個方面： 1、溫度適應性測試 航空電子設備需要在極端溫度條件下正常工作，如高溫環(huán)境下的散熱和低溫環(huán)境下的電池性能。高低溫試驗箱可以模擬這
2023-08-18 10:50:42319 電子設備的持續(xù)小型化使得PCB板的布局越來越緊湊，然而不合理的PCB板布局嚴重影響了板上電子元器件的熱傳遞通路，從而導致電子元器件的可靠性因溫度升高而失效，也即系統(tǒng)可靠性大大降低。這也使得PCB板的溫升問題上升到一定的高度。
2023-08-01 14:20:08415 
件占LED顯示屏成本約40%～70%，LED顯示屏成本的大幅下降得益于LED器件的成本降低。LED封裝質(zhì)量的好壞對LED顯示屏的質(zhì)量影響較大。封裝可靠性的關(guān)鍵包括芯片材料的選擇、封裝材料的選擇及工藝管控。隨著LED顯示屏逐漸向著高端市場滲透，對LED顯示屏器件的品質(zhì)要求
2023-07-31 17:34:39452 可靠性，是指產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力，是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標，如果在規(guī)定時間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能，則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測試項目的科學性、合理性，抽樣和試驗
2023-07-21 10:36:26619 
總之，可靠性分配是一種有助于理解復雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件，并為每個組件分配可靠性指標，可以進行更詳細和全面的可靠性分析，從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810 目標到2025年,重點行業(yè)關(guān)鍵核心產(chǎn)品的可靠性水平明顯提升，可靠性標準體系基本建立，企業(yè)質(zhì)量與可靠性管理能力不斷增強，可靠性試驗驗證能力大幅提升，專業(yè)人才隊伍持續(xù)壯大。
2023-07-04 11:26:39313 
拉力試驗機夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類、廠家等因素都對測試的準確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗機夾具時，需要根據(jù)被測物體的特性和測試要求，選擇合適的夾具，確保測試的準確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:29459 
°C /30min熱沖擊條件常出現(xiàn)失效的情況。 2、失效原因 在熱沖擊試驗過程中(如150°C)，只有內(nèi)部高溫箱的熱能、電池內(nèi)部的活性物質(zhì)的內(nèi)能，以及貯存在鋰離子電池中的電能。即使是150°C的高溫箱溫度也不會達到處于滿充狀態(tài)的電池中活性物質(zhì)的著火點。那么很顯然電池失效的原因為電池內(nèi)部物質(zhì)電能或者
2023-06-25 13:56:01349 一站式PCBA智造廠家今天為大家講講PCBA加工焊點失效是什么原因?PCBA加工焊點失效的解決方法。焊點質(zhì)量是PCBA加工中最重要的一環(huán)。焊點質(zhì)量的可靠性決定了PCBA產(chǎn)品的可靠性和使用壽命
2023-06-25 09:27:49471 為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當順序引人新的人為的失效機理，封裝失效分析應按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315 
單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
集成電路封裝的可靠性等提供支撐。通常，集成電路封裝失效分析分為無損失效分析（又稱非破壞性分析）和有損失效分析（又稱破壞性分析）。破壞性物理分析(Destructive Physical
2023-06-21 08:53:40572 通過集成和應用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
和CMA授權(quán)的實驗，目前已經(jīng)給國內(nèi)多家國企，央企做過此標準的測試和報告。
1、電源適應性試驗：
2、無線電騷擾試驗：
按照GB9254標準進行傳導騷擾和輻射發(fā)射限值，滿足B級試驗要求。
3、電磁兼容
2023-06-15 09:45:58
封裝可靠性設計是指針對集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式，采取相應的設計技術(shù)，消除或控制失效模式，使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術(shù)活動。
2023-06-15 08:59:55505 集成電路可拿性是指．在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時問內(nèi)，集成電路完成規(guī)定功能的能力?？赏ㄟ^可靠度、失效率、平均無故障工作時間、平均失效時間等來評價集成電路的可靠性。可靠性包含耐久性、可維修性和設計可靠性
2023-06-14 09:26:46849 
所謂的可靠性的“雙85”試驗就是參數(shù)設置為溫度85℃，濕度85%RH的簡單恒溫恒濕試驗。雖然試驗條件簡單，但是廣泛的被應用來考核材料和元器件的很多的特性指標。什么是可靠性的“雙85”試驗？在環(huán)境設定
2023-06-12 16:52:50456 
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗，進口元器件可靠性篩選試驗
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
，濕度燈周圍環(huán)境狀況的改變，極易使使用壽命縮短，性能下降。因此，進行環(huán)境可靠性試驗是非常必要的。一、常見汽車電子產(chǎn)品可靠性試驗對不同地點和使用目的的汽車電子產(chǎn)品來說，
2023-06-07 10:45:32548 試驗，電壓暫降測試，騷擾功率試驗，電磁抗擾試驗室，射頻測試，電磁場輻射試驗，抗繞度試驗，電瞬態(tài)干擾試驗，插入損耗試驗等。
可靠性試驗/可靠性測試：
可靠性強化試驗，加速壽命試驗（halt），環(huán)境應力篩選試驗（ess），可靠性驗收試驗，可靠性鑒定試驗，可靠性增長試驗。
2023-05-23 15:55:57
一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:021009 
LED驅(qū)動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能，同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動電源的使用中，導致LED驅(qū)動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預測工作
2023-05-17 08:49:55
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通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
芯片對于電子設備來說非常的重要，進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下，生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 IGBT 作為新能源汽車電機控制器的核心部件，直接決定了電動汽車的安全性和可靠性。本文主要介 紹采用熱敏感電參數(shù)法提取 IGBT 結(jié)溫，并結(jié)合 CLTC 等試驗工況得出對應結(jié)溫曲線，通過雨流分析
2023-05-05 10:34:52891 
計劃和先前的質(zhì)量分析，然后進行FMEA（故障模式和影響分析）分析并提出防止產(chǎn)品潛在故障的措施，MSA（測量系統(tǒng)分析）必須分析測量結(jié)果的變化以確認測量可靠性，SPC（統(tǒng)計過程控制）掌握生產(chǎn)規(guī)程并使用統(tǒng)計技術(shù)來
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復雜的離散互連電纜會降低設計的可靠性，增加設計成本和總體設計尺寸。幸運的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設計互連要求的經(jīng)濟高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
失效率是可靠性最重要的評價標準，所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導作用。
2023-04-20 10:27:041117 
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
無人機作為高科技產(chǎn)品，其環(huán)境可靠性是其重要性能之一。為了保證無人機在各種極端環(huán)境下正常工作，在無人機研制和生產(chǎn)過程中，需要進行一系列環(huán)境可靠性試驗。
首先，無人機需要進行溫度環(huán)境試驗。該試驗
2023-04-17 15:39:22568 
對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925 
環(huán)境可靠性試驗是一種對產(chǎn)品進行全面評估的測試方法，可應用于廣泛的行業(yè)和領(lǐng)域。該技術(shù)可以評估產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性，包括溫度、濕度、震動和應力等方面。因此，在許多關(guān)鍵領(lǐng)域，如國防
2023-04-12 11:26:55664 
PCB設計中的可靠性有哪些？ 實踐證明，即使電路原理圖設計正確，如果PCB設計不當，也會對電子設備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個簡單的例子，如果PCB兩條細平行線靠得很近的話，則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 半導體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗是一種常用的測試方法，通過模擬實際使用中的高溫環(huán)境，可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗需要仔細設計實驗方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 
1.什么是可靠性? 可靠度(Reliability)也叫可靠性， 指的是產(chǎn)品在規(guī)定的時間內(nèi)， 在規(guī)定的條件下，完成預定功能的能力。它包括結(jié)構(gòu)的安全性、適用性和耐久性，當以概率來度量時（定量），稱可靠
2023-04-03 16:45:48363 
我想知道這些設備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
壞境條件下的性能，并進行評估分析該產(chǎn)品在此環(huán)境作用下，所受到的影響程度及可能發(fā)生失效的機理。 2.作用發(fā)生階段 可靠性試驗在以下各階段發(fā)揮的重要作用。 2.1 研發(fā)階段 對試樣進行環(huán)境分析，找出產(chǎn)品的原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、安全性、環(huán)
2023-03-27 15:09:46399 
Weibull分布是最常用于對可靠性數(shù)據(jù)建模的分布。此分布易于解釋且用途廣泛。在可靠性分析中，可以使用此分布回答以下問題： · 預計將在老化期間失效的項目所占的百分比是多少？例如，預計將在8小時老化
2023-03-27 10:32:33880 
視覺疲勞，廣泛應用于電視屏幕和部分手機屏幕。LCD在投入使用前要進行一系列的環(huán)境試驗，以保證產(chǎn)品質(zhì)量。LCD產(chǎn)品常用溫濕度可靠性試驗：1.高溫試驗將試驗品放入高低溫
2023-03-27 09:44:39340 
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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