Lumick公司c-Trap 單分子熒光光鑷系統
產品介紹：
C-Trap是世界上第一個動態單分子顯微鏡，允許同時進行分子操作并觀察實時單分子相互作用的可視化。C-Trap系統將高分辨率光學鑷子，熒光或無熒光標記顯微鏡與先進的微流體技術結合在一個真正集成的系統中。
c-Trap旗下有兩款主要產品
C-Trap?Dymo – 適用于DNA和蛋白質動力學和相互作用
C-Trap?Edge – 適用于細胞和細胞骨架表面操作
產品特點：
1.單個蛋白質直接實時動態可視化。
2.超高性能，高實時分辨率
3.分子可視化之間的無縫關聯，并提供并行的多個數據流
4.使用方便
產品應用:
1.DNA結構分析
2.蛋白質折疊
3.分子機器和細胞骨架
4.表面成像
C-Trap為您提供三個關鍵功能:穩定和精確的樣品操作和測量，各種各樣的可視化功能，以及溶液和表面分析的高通量實驗工作流程。下面探索C-Trap的不同光鑷配置，并了解其操作和可視化功能。
單光阱：
雙光阱：
四光阱：
共聚焦熒光，可升級到STED超分辨率共聚焦:
共聚焦熒光：
憑借其快速的1D掃描能力，共聚焦針對1D結構(如DNA或細絲)進行了優化。多達3色共聚焦熒光，可同時顯示多種蛋白質。
受激發射損耗顯微技術:
可升級到C-Trap SR，配備了受激發射損耗(STED)納米顯微鏡，以區分近距離的單個蛋白質，進行高分辨率(< 35 nm)實驗。
全內反射熒光顯微鏡，廣域熒光顯微鏡，干涉反射顯微鏡：
全內反射熒光顯微鏡： 適用于表面可視化，可以消除了焦平面外的背景熒光。
干涉反射顯微鏡(IRM)： 允許在不需要熒光標記的情況下進行細胞微管可視化。
廣域熒光顯微鏡: 在溶液中進行生物分子過程高采集率成像。
C-Trap?Dymo:
C-Trap Dymo是專門為在溶液測量而設計和優化的，可配備共聚焦顯微鏡或廣域熒光顯微鏡以及可選的受激發射損耗顯微鏡，配備有兩個或四個陷阱，提供了專門深入研究特定應用程序或提供給用戶進行各種不同溶液測量的設備。
適用案例：
DNA結合蛋白質，研究中涉及到的DNA修復、修復、復制、編輯、轉錄和染色體組織的分子機制。
蛋白質折疊，研究蛋白質如何正確折疊并經歷構象變化以完成其生物學功能。
相分離，實時測量蛋白滴的組裝、融合和特性。
C-Trap Edge：
專為單分子水平的超穩定表面分析而開發的新一代工具。從自下而上設計，這種解決方案使科學家能夠從一個新的動態角度研究細胞骨架。通過表面成像(smTIRF, IRM)和支持表面分析的工作流工具，它將表面成像和光學鑷子的最佳功能整合到一個完全集成的平臺中。
適用案例：
細胞骨架結構和運輸，研究細胞骨架纖維及其馬達蛋白活性和機械特性。
生物力學，實時操作和研究細胞力學和功能。
Specifications of the C-Trap Dymo
型號 | C-Trap Dymo | |
光鑷 | 力分辨率(x,y) | < 0.1 pN @100 Hz |
力穩定性(x,y) | < 0.3 pN 超過2min | |
力采樣頻率 | 78 kHz | |
雙陷阱模式下最大逃逸力(x,y) | > 1000 pN (4.5 μm 聚苯乙烯小球) | |
位移分辨率（力信號） | < 0.3 @100 Hz | |
位移分辨率（實時亮場） | < 3 nm @100 Hz | |
最小增量步長 | 0.5nm | |
運動范圍 | 50 μm x 50 μm x 9 μm | |
獨立陷阱數量為 | 1-2 or 1-4 | |
共聚焦顯微鏡 | 共聚焦顯微鏡分辨率 | 衍射限制 |
1D STED顯微鏡分辨率 | < 35 nm | |
熒光點位置精度 | < 5 nm | |
定位精度 | < 15 nm | |
掃描速度 | 高達100Hz | |
靈敏度 | 單熒光團檢測優化 | |
暗計數 | 停留時間內每像素光子數< 0.025（通常為0.1毫秒） | |
背景雜光抑制 | 100 nm（1 ms 積分時間） | |
熒光光子測量時間精度 | 10 ns | |
視場范圍 | 50 μm x 35 μm | |
共焦顯微鏡可觀測顏色數 （默認：488 nm、561 nm、638 nm） | 1或3 （Dymo 300, 400w, 400, 700） | |
樣品處理 | 微流控技術（Microfluidics） | 先進的微流體與自動閥門 |
絕對溫度精度 | 0.2°C | |
溫度控制穩定性 | 0.05°C | |
溫度控制范圍 | 房間溫度最高45°C | |
表面分析套件 | 力分辨率（z） | < 0.1 pN @100 Hz |
力穩定性（z） | < 0.3 pN 超過2min | |
表面分析工具包 | 納米級測量，近表面力校準，高度測定 | |
短鏈分析套件 | 陷阱深度（x,y） | < 0.1 nm 飄移 |
短鏈分析 | 納米級主動校準，短鏈壓電跟蹤，基線校正 | |
Specifications of the C-Trap Edge
型號 | C-Trap Edge | |
光鑷 | 力分辨率(x,y) | < 0.1 pN @100 Hz |
力穩定性(x,y) | < 0.3 pN 超過2min | |
力采樣頻率 | 78 kHz | |
雙陷阱模式下最大逃逸力(x,y) | > 1000 pN(4.5 μm 聚苯乙烯小球) | |
位移分辨率（力信號） | < 0.3 @100 Hz | |
位移分辨率（實時亮場） | < 3 nm @100 Hz | |
最小增量步長 | 0.5nm | |
運動范圍 | 50 μm x 50 μm x 9 μm | |
獨立陷阱數量為 | 1-2 or 1-4 | |
寬視野/ 全反射熒光顯微鏡
| 寬視野和全反射熒光顯微鏡分辨率 | 衍射限制 |
像素尺寸 | 72nm | |
全視場相機幀率 | > 125 Hz | |
視場大小 | 45 μm x 45 μm | |
全反射熒光顯微鏡色彩數 | 1-3 | |
寬視野顯微鏡色彩數 | 1-3 | |
干涉反射顯微鏡（IRM） | IRM分辨率 | 衍射限制 |
像素尺寸 | ~77 | |
全視場相機幀率 | >25Hz | |
視場大小 | 25μm x 25μm | |
樣品處理 | 微流控技術（Microfluidics） | 先進的微流體與自動閥門 |
絕對溫度精度 | 0.2°C | |
溫度控制穩定性 | 0.05°C | |
溫度控制范圍 | 房間溫度最高45°C | |
表面分析套件 | 納米級測量，近表面力校準，高度測定 | |
表面穩定性(z) | < 0.3 pN 超過2min | |
短鏈分析套件 | 陷阱深度（x,y） | < 0.1 nm drift over 10 minutes |
短鏈分析 | 主動校準，短鏈壓電跟蹤，基線校正 | |
