是德Keysight/Agilent 8722ES 40G網絡分析儀
Keysight/Agilent 8722ES 包括集成合成源、測試裝置和調諧接收器。內置 S 參數測試儀可提供全范圍的正向和反向幅度和相位測量。內置矢量精度增強技術包括完整的兩端口、適配器移除和可選的 TRL 校準。
其他功能和規格包括：
- 頻率：50 MHz 至 40 GHz
- 動態范圍：100分貝
- 時域測量（選項：010）
- 添加了 4 個采樣器測試裝置（選項：400）
- 高穩定性頻率參考（選項：1D5）
- 出色的測量精度
- 兩個測量通道
- 四個顯示通道
- 頻率和功率掃描
- 快速掃描和數據傳輸速度
- 通過/失敗測試，強大的標記功能
- 電子校準 (ECal)
- 具有測試排序功能的內部自動化
8722ES矢量網絡分析儀能夠全面表征RF和微波組件。8722ES包括一個集成的合成源、測試裝置和調諧接收器。內置S參數測試集提供正向和反向的全范圍幅度和相位測量。內置矢量精度增強技術包括全雙端口、適配器移除和可選的TRL校準。
選項089增加了頻率偏移模式，允許 從源頻率偏移的接收器。 這允許直接測量以下轉換損耗 無需參考混頻器的混頻器。射頻和 IF頻率必須在儀器的指定工作范圍內。這個測試集修改增加了一個內部參考通道開關 刪除參考通道輸出。固件 指導用戶完成測試設置。什么時候沒有 在頻率偏移模式下，系統工作方式如下 標準系統和符合標準的儀器 規格。
對于時域選項，來自頻率中的透射或反射測量的數據 使用將時域轉換為時域 傅立葉變換技術(啁啾Z)和 呈現在顯示器上。時域響應 顯示測量的參數值與時間的關系。 標記也可以用電長度顯示 (或物理長度，如果相對傳播 輸入速度)。
這種刺激，類似于傳統的時域 反射計(TDR)刺激波形用于 測量低通器件。頻域 數據應來自DC(外推值) 到更高的值，上限被定義 由所使用的測試配置決定。時域 響應顯示參數值與時間的關系 (乘以光速c，獲得電 長度或通過c和Vrel獲得物理長度)。 階躍響應通常用于反射 僅測量
這種刺激也用于測量低通 設備。頻域數據應該擴展 從DC(外推值)到更高的值， 由測試確定的最大頻率 配置。時域響應顯示 參數值隨時間的變化。這 脈沖響應可用于反射或 傳輸測量。
- 帶通脈沖模擬脈沖射頻信號 (帶有脈沖包絡)并用于測量 限帶器件的時域響應。 開始和停止頻率可通過以下方式選擇 用戶在測試的限制范圍內任意取值 用過的套件。帶通時域響應還 顯示參數值隨時間的變化。 帶通時域響應適用于 反射和透射測量。
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