0 引言
　　在現代雷達系統中，帶有DSP（數字信號處理器）芯片的數字電路板應用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標準，并且在電路板中形成了邊界掃描鏈，支持邊界掃描測試。
　　在DSP電路板中有這樣一類集成電路，它們屬于非邊界掃描器件，位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測試難以進行。首先，這些帶DSP的電路板有獨立的時序，所以不能單獨采用傳統的通過外部接口輸入測試矢量的方法進行測試；其次，邊界掃描測試只能對與DSP芯片相連的引腳進行互連測試，可檢測短路故障，但是難以進行功能測試。
　　本文采用邊界掃描測試技術與傳統的測試方法相結合，為這類器件的功能測試提供了一種新的選擇。 1測試方法
　　在IEEE 1149.1標準中，規定了4條強制性指令：旁路指令（BYPASS）、采樣指令（SAMPLE）、預裝指令（PRELOAD）、互連測試指令（EXTEST）。根據采樣指令和互連測試指令的工作原理，利用邊界掃描單元能夠捕獲和驅動引腳信號。利用邊界掃描器件的這一特點，可以實現用DSP芯片對圖1所示的電路板中非邊界掃描器件進行信號采集和激勵向量發送，從而利用邊界掃描測試技術與傳統的測試方法相結合實現對這類器件進行測試。
　　
　　這種測試方法可分兩種情況：
　　a）如圖2中實線所示，非邊界掃描器件的輸入端與邊緣連接器相連，輸出端與DSP芯片相連。使用故障診斷軟件，通過數字I／O模塊產生穩定的激勵向量，激勵向量通過邊緣連接器送人非邊界掃描器件，所產生的響應向量由與其相連的邊界掃描器件（DSP芯片）獲取，并通過邊界掃描通道把獲取的響應向量串行輸出并顯示。根據被測器件的工作特性可以分析出理論上的預期響應向量，將所獲取的響應向量與預期響應向量進行比較，如果比較結果不一致，說明器件可能存在功能性故障。
　　b）如圖2中虛線所示，非邊界掃描器件的輸入端與DSP芯片相連，輸出端與邊緣連接器相連。使用邊界掃描測試軟件，將測試激勵向量串行移人相關引腳（與非邊界掃描器件相連的引腳）的邊界掃描單元中，并驅動到引腳，把測試激勵送入被測器件，所產生的響應向量通過邊緣連接器由數字I／O模塊獲取，由故障診斷軟件讀取觀察分析。根據被測器件的工作特性可以分析出理論上的預期響應向量，將所獲取的響應向量與預期響應向量進行比較，如果比較結果不一致，說明器件可能存在功能性故障。
　　
　　2 測試系統的組成
　　測試系統的硬件組成如圖3所示。VXI系統采用VXI-1394外部控制方式；零槽模塊負責把IEEE 1394串行通信協議轉換為VXI協議；數字I／O模塊型號是DIOM-64，每個模塊有64路I／O通道，3個數字I／O模塊共提供192個測試通道，主要用于向被測電路板提供激勵信號和采集電路板的輸出信號；適配器用于測試設備與被測板之間的信號匹配以及向被測板提供電源；JTAG接口控制器實現計算機算法產生的信號與標準JTAG信號之間的傳輸和轉換。