描述

我擁有許多 DS1307 芯片，它們非常便宜，我喜歡在需要日期和/或時間的不同燈光項目中使用。但我無法想象這種 RTC 精度會如此糟糕。當然可以使用另一個芯片，但我不想重建我的舊項目硬件。

如果準確性很差，那么它是恒定的：每天幾秒鐘（幾個月后可能會變成幾分鐘）。由于 DS1307 擁有一個小的 56 字節 NVRAM（只要電池留在原位，數據就會保存），該項目的想法是測量漂移，并將漂移值和參考日期記錄到 NVRAM 中。

這個怎么運作

1- 我們將使用 DS1307 NVRAM 的前 9 個字節：

- “cell0”和“cell1”是定義 DS1307 狀態的 2 個字節：

• “cell0= 1 & cell1 = 1” DS1307 漂移操作完成

• “cell0= 0 & cel1 = 0” DS1307 漂移操作正在進行 – 持續時間為 24 小時

• 任何其他值：從未執行過漂移操作

• “cell8”存儲24小時定義的漂移值，是秒數。

• “cell2 to cell7”保留最后一次漂移操作的日期/時間。這些數據定義了應用漂移值的天數（在 1 天內計算）：GoodTime = ReadTime - (numberOfDays x 漂移)

2- 我們使用日期/時間參考來與 RTC 進行比較并定義漂移

此日期/時間參考可以通過 NTP（通過 ESP8266MPU 輕松獲得）或 GPS 模塊提供。

3- 插入 DS1307 時，有 3 種可能的情況：

1- DS1307 從未經過測試。如果確認操作，標記的日期/時間（= 當前日期/時間 + 24 小時）存儲在 RAM 中，“cell0”和“cell1”設置為“0”。

2- 只要“cell0”和“cell1”設置為“0”，DS1307 就處于測試狀態。每分鐘將 RTC 秒數與定義漂移的 NTP 進行比較。我們假設漂移不會超過 -30s / +30s 的范圍。一旦達到標記的日期/時間（即 24 小時后），應該測試 DS1307，漂移值存儲在“cell8”中，“cell0”和“cell1”設置為“1”。

3- DS1307 已經過測試，可以使用了。首先建議調整時間，然后再重新測試 24 小時。

在測試期間不要讓屏蔽層通電。每次開機都會獲得參考日期/時間。如果下一次通電晚于所需的 24 小時測試，則漂移值將被校正以反映 24 小時持續時間。

注意：共享 2 個代碼：

wemos mini 檢測和設置任何 DS1307 漂移的代碼，

Arduino Uno 的代碼顯示如何在檢查了 DS1307 的漂移值后使用它