電子發燒友網>電子資料下載>電子論文>射頻無線論文>光調制散射器在近場測試中的應用

光調制散射器在近場測試中的應用

2078772 2008-12-09 | rar | 343 | 次下載 | 5積分

資料介紹

給出以互易原理為基礎的光調制散射器測量法的理論推導，采用光電二極管光導開關作為散射器中間部分的光調制單元，設計出了實用的光調制散射器微波測量系統。并利用光調制散射器測量開口波導軸線的近場分布結果，與HFSS仿真結果比較具有良好的一致性。
關鍵詞光調制散射器; 互易原理; 近場測試; 開口波導

任何測量輻射天線近場方法都會對場產生擾動，傳統的方法是用開口波導作為探頭進行測量。由于探頭和連接電纜都為導體，并且尺寸也比測量的微波波長大，故其對場的影響較大，對于測量遠區場不會構成太大的問題，但對于測量近場、導體附近的場、腔體內的場時，就使測量不準確。文獻[1]采用一個細小的金屬棒作為散射器，用機械旋轉的方式對其進行調制，利用互易原理，用一個天線既作為發射天線又作為接收天線的單站方式，在對場擾動很小的情況下準確地得到了場的分布。隨后，散射器測量法得到了大量的應用和不斷的改進。文獻[2]在偶極子中部放入半導體器件，將機械調制改為半導體調制，簡化了調制裝置。文獻[3]將半導體器件換為光敏元件，通過光照的方式實現了對散射器的調制。文獻[4]用塑料光纖把調制信號從調制源送到散射器的光敏元件上，提高了調制精度。文獻[5]在此基礎上對該方法進行了進一步的研究和完善。本文利用光電二極管光導開關作為散射器中間部分的光調制單元，設計出了實用的光調制散射器微波測量系統。