資料介紹
?隨著現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù)、微電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也隨著復(fù)雜電子裝備的需求而不斷發(fā)展,通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)今后發(fā)展的必然方向。簡(jiǎn)要介紹了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展概況,通過對(duì)通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)的分析,提出了“架構(gòu)層”、“語法層”和“語義層”通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念,并討論了涉及下一代通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)及應(yīng)用方向,為通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的研究指明了方向。
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