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標(biāo)簽 > 可靠性分析
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集成電路預(yù)鍍框架銅線鍵合封裝在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)第二鍵合點(diǎn)失效,通過激光開封和橫截面分析,鍵合失效與電化學(xué)腐蝕機(jī)理密切相關(guān)。通過 2 000 h 高溫存儲試...
雖然傳統(tǒng)蒙特卡洛方法有種種優(yōu)勢,但是當(dāng)失效是小概率事件,正如現(xiàn)實(shí)情況中自動駕駛車輛及系統(tǒng)失效概率很低時,上述估計(jì) 的方法會陷入困難。
當(dāng)沒有失效或失效很少時,可以使用假設(shè)的形狀或尺度參數(shù)進(jìn)行分布分析,使用的方法稱為 Bayes 分析。在使用 Weibull 模型的情況下,這種方法更多稱...
你知道B10壽命是什么嗎?如何利用Minitab計(jì)算B10壽命
在過去一年多的時間里,我聽到很多人都在問:“我怎樣才能在 Minitab 中計(jì)算 B10 壽命?”盡管我是一名統(tǒng)計(jì)學(xué)家和工業(yè)工程師(請注意,我從來沒有像...
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