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可靠性測(cè)試

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可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

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可靠性測(cè)試技術(shù)

可靠性測(cè)試：HAST與PCT的區(qū)別

HAST測(cè)試的核心宗旨HAST測(cè)試的核心宗旨宗旨：HAST測(cè)試的主要宗旨是通過模擬極端環(huán)境條件，加速半導(dǎo)體元器件的失效過程，以此來驗(yàn)證元器件在高溫、高濕...

2024-12-27 標(biāo)簽：PCT 可靠性測(cè)試 HAST 301 0

GaN可靠性測(cè)試新突破：廣電計(jì)量推出高壓性能評(píng)估方案

氮化鎵（GaN），作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料，憑借卓越的功率轉(zhuǎn)換效率、超快的開關(guān)速度以及出色的耐高溫性能，在5G通信、新能源汽車、數(shù)據(jù)中...

2024-11-28 標(biāo)簽：SiC GaN 可靠性測(cè)試 417 0

使用Keithley 4200-SCS半導(dǎo)體表征系統(tǒng)進(jìn)行氧化物可靠性測(cè)試

氧化物完整性是一個(gè)重要的可靠性問題，特別對(duì)于今天大規(guī)模集成電路的MOSFET器件，其中氧化物厚度已經(jīng)縮放到幾個(gè)原子層。JEDEC 35標(biāo)準(zhǔn) (EIA/...

2024-11-18 標(biāo)簽：半導(dǎo)體氧化物 Keithley 518 0

芯片測(cè)試有哪些芯片測(cè)試介紹

本文就芯片測(cè)試做一個(gè)詳細(xì)介紹。芯片的測(cè)試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會(huì)進(jìn)行SLT（s...

2024-07-26 標(biāo)簽：晶圓芯片測(cè)試可靠性測(cè)試 2735 0

高可靠繼電器的設(shè)計(jì)與制造

高可靠繼電器作為一種關(guān)鍵電子控制器件，在電力保護(hù)、自動(dòng)化控制、通信等領(lǐng)域中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其設(shè)計(jì)與制造過程必須嚴(yán)格遵循高標(biāo)準(zhǔn)，以確保在復(fù)雜和惡劣的...

2024-06-24 標(biāo)簽：繼電器自動(dòng)化控制可靠性測(cè)試 616 0

推拉力測(cè)試機(jī)在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用，設(shè)備功能、技術(shù)指標(biāo)及安裝要求

最近有客戶在網(wǎng)站上咨詢芯片焊接強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體激光器。半導(dǎo)體激光器廣泛應(yīng)用在雷達(dá)，遙控遙測(cè)，航空航天等應(yīng)用中。對(duì)其可靠性提出了越來越高的要求...

2024-06-07 標(biāo)簽：半導(dǎo)體試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試 1246 0

功率器件環(huán)境可靠性測(cè)試的加速老化物理模型

高溫柵偏（HighTemperatureGateBias，HTGB）、高溫反偏（HighTemperatureReverseBias，HTRB）、高溫高...

2024-04-23 標(biāo)簽：功率器件可靠性測(cè)試半導(dǎo)體服務(wù) 1583 0

可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS，都是可靠性測(cè)試的方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么...

2024-01-30 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試可靠性試驗(yàn)HALT 1343 0

IGBT的可靠性測(cè)試方案

在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng)，公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng)，...

2024-01-17 標(biāo)簽：半導(dǎo)體安森美 IGBT 1565 0

半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)介紹

本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外，還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機(jī)械可...

2024-01-13 標(biāo)簽：半導(dǎo)體半導(dǎo)體封裝可靠性測(cè)試 5577 0

可靠性測(cè)試帖子

在哪里獲得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性測(cè)試報(bào)告？

標(biāo)簽：芯片可靠性測(cè)試 323 0

可靠性試驗(yàn)順序別搞錯(cuò)，否則結(jié)果不可靠！

標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 2368 3

企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性有哪幾種測(cè)試方法

標(biāo)簽：可靠性測(cè)試方法可靠性測(cè)試 2694 3

六類可靠性試驗(yàn)的異同，終于搞懂了！

標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 4013 1

振動(dòng)可靠性測(cè)試

標(biāo)簽：振動(dòng)測(cè)試可靠性測(cè)試電路板測(cè)試 2481 0

板階可靠性驗(yàn)證

標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 2186 0

車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC-Q)

標(biāo)簽：汽車電子可靠性測(cè)試 12195 3

可靠性測(cè)試資料下載

AEC-Q100-012智能電源開關(guān)短路可靠性測(cè)試結(jié)果立即下載

類別：電子資料 2024-10-08 標(biāo)簽：短路電源開關(guān)可靠性測(cè)試 235 0

TPS7B4250-Q1短路可靠性測(cè)試立即下載

類別：電子資料 2024-09-30 標(biāo)簽：短路可靠性測(cè)試 103 0

PCB單位換算工具立即下載

類別：PCB設(shè)計(jì)規(guī)則 2023-09-27 標(biāo)簽：pcb 可靠性測(cè)試 974 0

IGBT功率循環(huán)可靠性測(cè)試設(shè)備立即下載

類別：電子資料 2023-02-23 標(biāo)簽：labview IGBT 可靠性測(cè)試 2524 0

硬件測(cè)試技術(shù)立即下載

類別：電子資料 2022-10-08 標(biāo)簽：pcb 可靠性測(cè)試硬件測(cè)試 698 0

可靠性預(yù)測(cè)一覽立即下載

類別：電子教材 2022-04-06 標(biāo)簽：工業(yè)可靠性測(cè)試 469 0

HALT、HASS等可靠性測(cè)試資料立即下載

類別：規(guī)則標(biāo)準(zhǔn) 2015-02-09 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 HALT HASS 1198 0

抽樣統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)技術(shù)與可靠性試驗(yàn)(培訓(xùn)講義教材資料)立即下載

類別：測(cè)試測(cè)量 2013-07-24 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試抽樣統(tǒng)計(jì) 866 2

半導(dǎo)體集成電路可靠性測(cè)試及數(shù)據(jù)處理立即下載

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CREE可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)立即下載

類別：規(guī)則標(biāo)準(zhǔn) 2011-04-20 標(biāo)簽：標(biāo)準(zhǔn)CREE 可靠性測(cè)試 1350 0

可靠性測(cè)試資訊

環(huán)境可靠性測(cè)試有哪些項(xiàng)目

在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，環(huán)境可靠性測(cè)試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測(cè)試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中的潛在問題。...

2024-12-25 標(biāo)簽：測(cè)試 IP防護(hù)可靠性測(cè)試 177 0

三防測(cè)試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)

什么是三防測(cè)試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行是至關(guān)重要的。三防試驗(yàn)，包括濕熱試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)和鹽霧試驗(yàn)，正是為了模擬這...

2024-11-06 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試三防 525 0

明治傳感 | 一文看懂傳感器的環(huán)境與可靠性測(cè)試

完善的質(zhì)量管理體系是企業(yè)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品卓越品質(zhì)的重要保障明治傳感深知，在高度精密且對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求極高的傳感器領(lǐng)域，任何細(xì)微的瑕疵都可能對(duì)產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性造...

2024-10-29 標(biāo)簽：傳感器試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試 563 0

PCB可靠性測(cè)試：開啟電子穩(wěn)定之旅

PCB 可靠性測(cè)試是確保印刷電路板質(zhì)量的一系列檢測(cè)。它主要模擬 PCB 在實(shí)際使用中面臨的各種情況。包括環(huán)境測(cè)試，像檢測(cè)其在高低溫、濕度變化等條件下是否...

2024-10-24 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 PCB 496 0

PCB可靠性測(cè)試：從環(huán)境模擬到電氣檢測(cè)的全方位解讀

在電子領(lǐng)域，PCB線路板是電子產(chǎn)品的關(guān)鍵基礎(chǔ)部件，而PCB可靠性測(cè)試至關(guān)重要。為什么那么說呢？來聽捷多邦小編緩緩道來~ 首先是環(huán)境測(cè)試。溫度循環(huán)測(cè)試通過...

2024-10-22 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試電氣檢測(cè)PCB 424 0

SPEA邀您關(guān)注NEPCON汽車電子智造創(chuàng)新大會(huì)

NEPCON是深耕汽車電子行業(yè)專業(yè)展會(huì)之一，在加速汽車電子產(chǎn)業(yè)技術(shù)進(jìn)步、促進(jìn)產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展發(fā)揮著積極作用。7月24日，NEPCON將在上海國(guó)際汽車城瑞立...

2024-07-12 標(biāo)簽：芯片汽車電子可靠性測(cè)試 482 0

如何選擇合適的電源模塊?你了解電源模塊可靠性測(cè)試嗎?

模塊式結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)甚多，因此模塊電源廣泛用于交換設(shè)備、接入設(shè)備、移動(dòng)通訊、微波通訊等領(lǐng)域。為增進(jìn)大家對(duì)電源模塊的認(rèn)識(shí)，本文將對(duì)電源模塊的選擇以及電源模塊的...

2024-07-04 標(biāo)簽：電源模塊可靠性測(cè)試 1052 0

整車模擬環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)房—汽車環(huán)境模擬綜合試驗(yàn)室

整車模擬環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)房—汽車環(huán)境模擬綜合試驗(yàn)室是現(xiàn)代汽車工業(yè)中不可或缺的重要設(shè)施。它以其全面、精準(zhǔn)的環(huán)境模擬能力和先進(jìn)的安全性能測(cè)試技術(shù)為汽車制造商提...

2024-02-23 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱可靠性測(cè)試汽車測(cè)試 626 0

Lab Companion LED燈具可靠性測(cè)試方案

一、溫度循環(huán)測(cè)試測(cè)試方法： 1、將5款LED燈具放置在一個(gè)測(cè)試箱，測(cè)試箱的溫度可以調(diào)節(jié)溫度變化速率； 2、按LED燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈； ...

2024-01-11 標(biāo)簽：led燈可靠性測(cè)試 634 0

LED燈具可靠性測(cè)試方案-Lab Companion

目前，國(guó)內(nèi)不少?gòu)S家在生產(chǎn)燈具后僅僅對(duì)燈具進(jìn)行簡(jiǎn)單的老化測(cè)試后出貨，顯然這是無法檢驗(yàn)出LED的壽命期的失效情況，同時(shí)無法保證產(chǎn)品的質(zhì)量，因此后期可能會(huì)有不...

2024-01-11 標(biāo)簽：led 可靠性測(cè)試 497 0

可靠性測(cè)試數(shù)據(jù)手冊(cè)

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PCB就是印制電路板又稱印制線路板，即英文Printed circuit board的縮寫，是電子原件的承載部分，是電子元器件電氣連接的提供者，PCB根據(jù)其基板材料的不同而不同。
芯和半導(dǎo)體

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芯和半導(dǎo)體是國(guó)產(chǎn)EDA行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè)，提供覆蓋IC、封裝到系統(tǒng)的全產(chǎn)業(yè)鏈仿真EDA解決方案，致力于賦能和加速新一代高速高頻智能電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。　　芯和半導(dǎo)體自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的EDA產(chǎn)品和方案在半導(dǎo)體先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)和先進(jìn)封裝上不斷得到驗(yàn)證，并在5G、智能手機(jī)、物聯(lián)網(wǎng)、人工智能和數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，有效聯(lián)結(jié)了各大IC設(shè)計(jì)公司與制造公司。
熱設(shè)計(jì)

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熱設(shè)計(jì)是隨著通訊和信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展而出現(xiàn)的一個(gè)較新的行業(yè)，在通訊、安防、PC、汽車、LED以及逆變器等行業(yè)中越來越被重視，成為產(chǎn)品研發(fā)中不可缺少的重要領(lǐng)域。熱設(shè)計(jì)一般由前期的仿真和后期的測(cè)試驗(yàn)證來完成。當(dāng)前的主流的仿真軟件有Flotherm， Icepak，F(xiàn)loEFD， 6SigmaET等
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集成電路設(shè)計(jì)

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集成電路設(shè)計(jì)（Integrated circuit design， IC design），亦可稱之為超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)（VLSI design），是指以集成電路、超大規(guī)模集成電路為目標(biāo)的設(shè)計(jì)流程。集成電路設(shè)計(jì)涉及對(duì)電子器件（例如晶體管、電阻器、電容器等）、器件間互連線模型的建立。
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TCXO（Temperature Compensate X‘tal （crystal） Oscillator） TCXO是通過附加的溫度補(bǔ)償電路使由周圍溫度變化產(chǎn)生的振蕩頻率變化量削減的一種。1.TCXO的溫度補(bǔ)償方式，溫度補(bǔ)償型石英晶體諧振器，具有精度高等特點(diǎn)。
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移動(dòng)開發(fā)也稱為手機(jī)開發(fā)，或叫做移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)開發(fā)，移動(dòng)應(yīng)用開發(fā)等。是指以手機(jī)、PDA、UMPC等便攜終端為基礎(chǔ)，進(jìn)行相應(yīng)的開發(fā)工作，由于這些隨身設(shè)備基本都采用無線上網(wǎng)的方式，因此，業(yè)內(nèi)也稱作為無線開發(fā)。
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深南電路股份有限公司（簡(jiǎn)稱“深南電路”），成立于1984年，注冊(cè)資本4.89億元，總部坐落于中國(guó)廣東省深圳市，主要生產(chǎn)基地位于中國(guó)深圳、江蘇無錫及南通，業(yè)務(wù)遍及全球，在北美設(shè)有子公司，歐洲設(shè)有研發(fā)站點(diǎn)。
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　　LED開關(guān)電源中應(yīng)用的電子器件主要為：LED二極管、IGBT和MOSFET。SCR在開關(guān)電源輸入整流電路及軟啟動(dòng)電路中有少量應(yīng)用，GTR驅(qū)動(dòng)困難，開關(guān)頻率低，逐漸被IGBT和MOSFET取代。
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杭州廣立微電子股份有限公司是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級(jí)電性測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商，公司專注于芯片成品率提升和電性測(cè)試快速監(jiān)控技術(shù)，是國(guó)內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計(jì)企業(yè)的重要合作伙伴。
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射頻簡(jiǎn)稱RF射頻就是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱。每秒變化小于1000次的交流電稱為低頻電流，大于1000次的稱為高頻電流，而射頻就是這樣一種高頻電流。有線電視系統(tǒng)就是采用射頻傳輸方式的
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去耦（decoupling）電容也稱退耦電容，一般都安置在元件附近的電源處，用來濾除高頻噪聲，使電壓穩(wěn)定干凈，保證元件的正常工作。去耦電容是電路中裝設(shè)在元件的電源端的電容
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