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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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采用系統(tǒng)級(jí)模塊方法簡(jiǎn)化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)
作者：Kenton Williston 投稿人：DigiKey 北美編輯 許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測(cè)量，這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗(yàn)收和電...
干簧繼電器：高端萬用表如何輕松應(yīng)對(duì)高低壓測(cè)量挑戰(zhàn)？
隨著電子設(shè)備和系統(tǒng)對(duì)電壓和電流測(cè)量的需求的日益增長(zhǎng)。這些測(cè)量需要覆蓋多個(gè)量級(jí)，從納伏到千伏，從飛安到高安培。僅靠單一儀器實(shí)現(xiàn)如此廣泛的測(cè)量范圍幾乎是不可...
2025-01-20 標(biāo)簽：萬用表測(cè)試測(cè)量ATE 272 0
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程...
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高...
OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
2024-08-30 標(biāo)簽：光纖ATE測(cè)試設(shè)備 289 0
如何選擇和應(yīng)用機(jī)電繼電器實(shí)現(xiàn)多功能且可靠的信號(hào)切換
作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來...
DFT全稱為Design for Test，可測(cè)性設(shè)計(jì)。就是說我們?cè)O(shè)計(jì)好一個(gè)芯片后，在仿真時(shí)可能99%的用例都通過了，怎么保證流片出來的實(shí)際芯片也能正常工作呢？
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2192 0
作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（3）基于ATE的IC測(cè)試原理、方法及故障分析
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...
兩種方法： 時(shí)域和頻域測(cè)試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測(cè)試。（時(shí)域，需要額外的TMU lice...
測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...
ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...
IT8500G+升級(jí)版可編程直流電子負(fù)載解決方案
傳統(tǒng)電源測(cè)試，需要工程師手動(dòng)設(shè)置直流電子負(fù)載的參數(shù)進(jìn)行拉載測(cè)試，人工記錄電源在不同負(fù)載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格，測(cè)試效率極其...
基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片...
2023-07-10 標(biāo)簽：ATEMEMS開關(guān)寬帶寬 580 0
ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。
本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向（拉電流和...
2023-07-14 標(biāo)簽：輸出電壓ATE機(jī)械設(shè)備 728 0
什么是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備？是如何工作的？
在改進(jìn)功能的同時(shí)提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項(xiàng)準(zhǔn)確的測(cè)試并減少故障和錯(cuò)誤的發(fā)生...
2023-06-29 標(biāo)簽：ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 1234 0
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