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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導體產業意指集成電路（IC）自動測試機，用于檢測集成電路功能之完整性，為集成電路生產制造之最后流程，以確保集成電路生產制造之品質。

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以更低的成本實現更高的半導體測試吞吐量

在這種環境下，ATE設計人員努力增加每一代通道的數量并不少見。提高測試能力意味著主板（具有大量引腳驅動器電子元件的驅動板）將需要大量功率才能運行。當然，...

2023-06-28 標簽：驅動器 ATE DUT 535 0

預算有限的自動測試設備

電子設備測試的復雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復雜的大型自動測試設備（ATE）。在簡單的手動測試和大規模ATE之間，是低預算和中等規模的測...

2023-03-28 標簽：電源隔離器 ATE 1419 0

一種基于直接法的動態稠密SLAM方案

基于特征點法的視覺SLAM系統很難應用于稠密建圖，且容易丟失動態對象。而基于直接法的SLAM系統會跟蹤圖像幀之間的所有像素，因此在動態稠密建圖方面可以取...

2023-03-13 標簽：RGB SLAM ATE 1356 0

高精度寬帶寬電流測量信號鏈的實例介紹

為數據處理、網絡、便攜式、可穿戴和其他計算應用設計并優化電源解決方案，需要對電壓和電流進行精確、寬帶、高動態范圍的測量。

2023-02-23 標簽：濾波器 MSPS 數字信號電平 1091 0

半導體測試行業的相關術語

ATE = Automatic Test Equipment. 是自動化測試設的縮寫，于半導體產業意指集成電路(IC)自動測試機，用于檢測集成電路功能...

2022-11-01 標簽：半導體 ATE 測試設備 4641 0

一種動態環境下的直接視覺里程計

其一是實際環境中的動態物體不一定被預訓練，另一是算法無法區分"動態物體"和"靜止但可能移動的物體"。

2022-10-12 標簽：SLAM ATE 1278 0

自動測試設備(ATE)系統中選擇器件電源(DPS)IC的指南

器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅動和電流驅動容量，能夠為自動測試設備(ATE)提供動態測試能力。當負載電流介于兩個設定限流值之間時，DPS IC...

2022-09-07 標簽：散熱器 DPS ATE 4181 0

如何校準ATE引腳電子設備的電平設置DAC

以下是如何通過增益和偏移調整了解其功能、誤差和校準來校準 ATE 引腳電子器件的電平設置 DAC。

2022-08-10 標簽：dac 數模轉換器 ATE 1312 0

ATE系統助力多維度打造穩定高效的自動測試設備

多維度入手打造穩定高效的自動測試設備，迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰 5G、人工智能、新能源等新技術的成熟驅動各行業加速數字化轉型落地，從而持續推動全...

2022-07-04 標簽：集成電路自動測試 ATE 2263 1

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標簽：dsp 振蕩器 cpu 6013 0

如何獲取除了數據手冊以外的ADC芯片數據

設計中選擇高分辨率ADC時，經常需要了解一些數據手冊中通常可能不會公布的特性數據，例如，全部代碼范圍內的轉換器噪聲性能。在數據手冊中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標簽：MSPS ADC ATE 6229 0

對于ATE測試儀器儀表，典型測試設備系統設計

由于待測器件（DUT）的復雜性提高，通道/引腳數量和功能增加，因而測試類型和所需測試數量也隨之增加。并且每個器件評估需要進行數百項測試，特別是在自動測試...

2018-07-16 標簽：測試測量 adi MEMS 1.6萬 0

ATEstar通用測試平臺管理系統

采用通用性和多線程的設計思想，研制一種通用測試平臺管理系統，具體實現分為配置和運行兩大部分。配置包括數據輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據配置參數按...

2018-05-23 標簽：ate 2453 0

ATE自動化測試系統是什么_ATE自動化測試系統介紹

本文首先介紹了ATE自動化測試系統發展線路，其次闡述了ATE自動化測試系統的作用及原理、特點、優勢，最后介紹了ATE自動化測試系統的功能、功能平臺及使用領域。

2018-05-23 標簽：ate 自動化測試系統 3.2萬 0

基于ATE高效測量射頻到基帶噪聲指數詳解

噪聲指數（Noise Figure）主要測量的是組件的信噪比（Signal-to-noise Ratio， SNR）性能，信噪比是誤碼率（BER）和載波...

2018-05-23 標簽：ate 2316 0

深度解讀基于ATE的IC測試技術

在IC的測試中，電壓的測試是所有測試參數中最為常見的一種參數，尤其是模擬芯片的測試，電壓測試更顯常見及重要，如：LDO、LED驅動、音頻功放、運放、馬達...

2017-10-27 標簽：繼電器 ate ic測試技術 1.9萬 0

自動測試設備(ATE)系統中的示波器需求

在測試電子器件時，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對電子電路進行驗證，工程師需要能夠查看和測量其設計中的信號。自動測試設備（ATE）通常不提供大量可...

2017-03-27 標簽：示波器 pxie ate 3014 0

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