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使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對(duì)DUT進(jìn)行EMI測(cè)試實(shí)驗(yàn)方案
實(shí)驗(yàn)背景:在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造流程中,電磁干擾(EMI)占據(jù)著舉足輕重的地位,是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運(yùn)作時(shí)可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射,進(jìn)...
FPGA入門必備:Testbench仿真文件編寫實(shí)例詳解
在編寫完HDL代碼后,往往需要通過(guò)仿真軟件Modelsim或者Vivadao自帶的仿真功能對(duì)HDL代碼功能進(jìn)行驗(yàn)證,此時(shí)我們需要編寫Testbench文...
認(rèn)識(shí)一下NI SWITCH模塊的組成和特點(diǎn)
許多自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用都需要通過(guò)部署一個(gè)開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)來(lái)實(shí)現(xiàn)儀器儀表和DUT之間的信號(hào)路由。而開(kāi)關(guān)不僅可用于路由信號(hào),也是增加昂貴儀器儀表的通道數(shù)以及提高測(cè)量靈活...
uvm1.1升級(jí)為uvm1.2 uvm_report_server報(bào)錯(cuò)是何原因?
ISP算法仿真中,小編會(huì)用reference model調(diào)用DPI接口用C++ 算法實(shí)現(xiàn)pixel算法處理,然后和DUT算法處理輸出的pixel值進(jìn)行比...
UVM手把手教程系列(一)UVM驗(yàn)證平臺(tái)基礎(chǔ)知識(shí)介紹
先拋開(kāi)UVM,回想一下我們?cè)谄綍r(shí)寫完程序后,是不是肯定需要灌一個(gè)激勵(lì)給DUT,然后再?gòu)腄UT獲取結(jié)果,并跟一個(gè)參考模塊進(jìn)行對(duì)比,檢查結(jié)果是否正確。就像下...
上海伯東美國(guó)inTEST熱流儀提供socket板高低溫沖擊測(cè)試解決方案
應(yīng)用于信息安全, 汽車電子和網(wǎng)絡(luò)通信等行業(yè)的 socket 板, 一般由多個(gè)芯片組合. socket 板在研發(fā)階段, 需要進(jìn)行嚴(yán)格的環(huán)境溫度測(cè)試, 測(cè)試...
我們稱之為“一類短路”,一般為橋臂直通導(dǎo)致的,硬件或軟件失效造成的,此時(shí)短路回路中的電感量很小(100nH),一般我們會(huì)采用VCE(sat)檢測(cè)來(lái)實(shí)現(xiàn)短路保護(hù)。
怎么用emac實(shí)現(xiàn)Verilog自動(dòng)連線呢?
我們?cè)诰帉懸恍┍容^復(fù)雜的Verilog代碼時(shí),通常需要進(jìn)行大量的手動(dòng)連線工作,這種工作十分容易出錯(cuò),并且在代碼模塊的嵌套層級(jí)較多時(shí),更改里層的一個(gè)代碼
2024-01-24 標(biāo)簽:VerilogDUTUbuntu系統(tǒng) 1484 0
如何減少PCB設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤提高效率立即下載
類別:PCB設(shè)計(jì)規(guī)則 2017-11-28 標(biāo)簽:pcb電路板soc 530 0
道路車輛—由傳導(dǎo)和耦合引起的電騷擾第2部分:沿電源線的電瞬態(tài)傳導(dǎo)立即下載
類別:規(guī)則標(biāo)準(zhǔn) 2016-04-26 標(biāo)簽:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電源線DUT 678 0
類別:模擬數(shù)字 2015-09-11 標(biāo)簽:運(yùn)算放大器CMRRDUT 1265 0
芯片測(cè)試作為芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測(cè)試流程中的重要步驟,是使用特定儀器,通過(guò)對(duì)待測(cè)器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測(cè),區(qū)別缺陷、驗(yàn)證器件...
LitePoint宣布其IQgig-UWB和IQgig-UWB+測(cè)試平臺(tái)通過(guò)FiRa聯(lián)盟驗(yàn)證
IQgig 測(cè)試儀系列可為超寬帶無(wú)線設(shè)備實(shí)現(xiàn)互操作性和加速批量制造
S參數(shù)去嵌:在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試中的精確化探索
在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試領(lǐng)域,S參數(shù)(散射參數(shù))扮演著至關(guān)重要的角色。
北京清微智能科技有限公司發(fā)布IC驗(yàn)證新方法,實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證
清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗(yàn)證中實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證的方法”已于今年3月獲批。該項(xiàng)專利內(nèi)容由該集團(tuán)獨(dú)立研究,申請(qǐng)日期優(yōu)先于2024年3月26日。
R&S?ESW-B1000寬帶擴(kuò)展選件提高EMI測(cè)試速度和可靠性
在EMI認(rèn)證測(cè)試中,EMI接收機(jī)是最重要的測(cè)試測(cè)量設(shè)備,在CISPR 16-1-1(對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)GB6113.101)標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)認(rèn)證級(jí)接收機(jī)的性能進(jìn)行了要求。
高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試(強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn))BHAST通過(guò)對(duì)芯片施加嚴(yán)苛的溫度、濕度和偏置條件來(lái)加速水汽穿透外部保護(hù)材料(灌封或密封)或外部保護(hù)材料和...
2024-01-02 標(biāo)簽:DUT 7908 0
羅德與施瓦茨的170 GHz功率傳感器在D波段中使用便捷且可追溯
羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱R&S)推出了新產(chǎn)品R&S NRP170TWG(N)功率傳感器,用于D波段的精確功率電平測(cè)量。
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)綜合醫(yī)療電氣安規(guī)測(cè)試儀SECULIFE ST PRO可提供10個(gè)患者應(yīng)用部分接口,可方便進(jìn)行患者泄...
Timer測(cè)試方案 Timer測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn) 測(cè)試平臺(tái)debug注意事項(xiàng)
IC驗(yàn)證,一般也稱“功能驗(yàn)證”,我們今天要講的,不是這個(gè),是它的簡(jiǎn)化版:模塊測(cè)試,是設(shè)計(jì)工程師完成代碼設(shè)計(jì)后,需要自己做的這部分驗(yàn)證工作。IC驗(yàn)證,我們...
2023-07-14 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)VHDL語(yǔ)言 978 0
OTA-NTCX100型源攪拌混響室丨納特通信專注小型化無(wú)線智能終端的產(chǎn)線測(cè)試
為了能夠高效快速地測(cè)試手機(jī)整體輻射性能,南京納特通信電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“納特通信”)研制出了OTA-NTCX100型源攪拌混響室。該混響室適用于產(chǎn)線...
2023-04-25 標(biāo)簽:測(cè)試產(chǎn)線測(cè)試DUT 711 0
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